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    Performance and V/sub dd/ scaling in deep submicrometer CMOS
    Hu, Chenming ; Chen, Kai
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 33 (1998), S. 1586-1589
    Online unknown
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    Key Aspects in Modeling of Thin Epi SOS Technology With Application of BSIMSOI
    Rotella, F.M. ; Clarke, Peter ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 46 (2011-05-01), S. 1089-1099
    Online unknown
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    SPICE modeling and quick estimation of MOSFET mismatch based on BSIM3 model and parametric tests
    John Russell McMacken ; Liou, Juin J. ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 36 (2001), S. 1592-1595
    Online unknown
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    Delay analysis of series-connected MOSFET circuits
    Newton, A.R. ; Sakurai, Takayasu
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 26 (1991), S. 122-131
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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