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  1. Chin, Ting-Yueh ; Chang, Sheng-Fuh ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits ; ISSN 0018-9200 1558-173X, 2010
    Online academicJournal
  2. Tseng, Richard ; Li, Hao ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits ; ISSN 0018-9200 1558-173X, 2010
    Online academicJournal
  3. Kotabe, Akira ; Yanagawa, Yoshimitsu ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits ; ISSN 0018-9200 1558-173X, 2010
    Online academicJournal
  4. Deng, Zhiming ; Niknejad, Ali M.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits ; ISSN 0018-9200 1558-173X, 2010
    Online academicJournal
  5. Geis, Arnd ; Ryckaert, Julien ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits ; ISSN 0018-9200 1558-173X, 2010
    Online academicJournal
  6. Chung, Yung-Hui ; Wu, Jieh-Tsorng
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits ; ISSN 0018-9200 1558-173X, 2010
    Online academicJournal
  7. Nair, Murli U. ; Zheng, Yuanjin ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits ; ISSN 0018-9200 1558-173X, 2010
    Online academicJournal
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
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