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    OLED Microdisplay With Monolithically Integrated CAAC-OS FET and Si CMOS Achieved by Two-Dimensionally Arranged Silicon Display Drivers
    Kozuma, Munehiro ; Komura, Yusuke ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 12 (2024), S. 187-194
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    A 65nm Cryogenic CMOS Design and Performance at 4.2K for Quantum State Controller Application
    Tada, Munehiro ; Okamoto, Koichiro ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 12 (2024), S. 28-33
    Online academicJournal
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    Cryogenic Small Dimension Effects and Design-Oriented Scalable Compact Modeling of a 65-nm CMOS Technology
    Gatti, Alberto ; Tavernier, Filip
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 12 (2024), S. 369-378
    Online academicJournal
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    Design and Thermal Analysis of 2.5D and 3-D Integrated System of a CMOS Image Sensor and a Sparsity-Aware Accelerator for Autonomous Driving
    Sharda, Janak ; Manley, Madison ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 12 (2024), S. 426-432
    Online academicJournal
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    1-Mbit 3-D DRAM Using a Monolithically Stacked Structure of a Si CMOS and Heterogeneous IGZO FETs
    Hirose, Takeya ; Okamoto, Yuki ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 12 (2024), S. 236-242
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    Machine Learning-Based Modeling of Hot Carrier Injection in 40 nm CMOS Transistors
    Xhafa, Xhesila ; Ali Dogus Gungordu ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 12 (2024), S. 281-288
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    Performance Analysis on Complementary FET (CFET) Relative to Standard CMOS With Nanosheet FET
    Jung, Seung-Geun ; Jang, Dongwon ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 10 (2022), S. 78-82
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    A Low-Power CMOS Image Sensor With Multiple-Column-Parallel Readout Structure
    Hyeon, Jang-Su ; Kim, Sang-Hyeon ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 10 (2022), S. 180-187
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    GaN-Based GAA Vertical CMOS Inverter
    Liu, Xinke ; Yang, Jiaying ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 10 (2022), S. 224-228
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    Silicon Wafer Gettering Design for Advanced CMOS Image Sensors Using Hydrocarbon Molecular Ion Implantation: A Review
    Kurita, Kazunari ; Kadono, Takeshi ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 10 (2022), S. 720-727
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    Temperature-Dependent Narrow Width Effects of 28-nm CMOS Transistors for Cold Electronics
    Tsai, Ting ; Lin, Horng-Chih ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 10 (2022), S. 289-296
    Online academicJournal
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    Comparison of Two in Pixel Source Follower Schemes for Deep Subelectron Noise CMOS Image Sensors
    Boukhayma, Assim ; Kraxner, Andrea ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 10 (2022), S. 687-695
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    Performance Enhancement of Asymmetrical Double Gate Junctionless CMOS Inverter With 3-nm Critical Feature Size Using Charge Sheet
    Bavir, Mohammad ; Abbasi, Abdollah ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 10 (2022), S. 334-340
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    A CMOS-Compatible Gate-Assisted Photonic Demodulator With Contrast Enhancement for Time-of-Flight Sensing
    Xiong, Annan ; Dai, Shunqi ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 11 (2023), S. 624-630
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    Overview on Latch-Up Prevention in CMOS Integrated Circuits by Circuit Solutions
    Ker, Ming-Dou ; Jiang, Zi-Hong
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 11 (2023), S. 141-152
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    Investigation of CDM ESD Protection Capability Among Power-Rail ESD Clamp Circuits in CMOS ICs With Decoupling Capacitors
    Huang, Yi-Chun ; Ker, Ming-Dou
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 11 (2023), S. 84-94
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    3-D Monolithic Stacking of Complementary-FET on CMOS for Next Generation Compute-In-Memory SRAM
    Md. Aftab Baig ; Yeh, Cheng-Jui ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 11 (2023), S. 107-113
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    Sensitivity Improvement of a Fully Symmetric Vertical Hall Device Fabricated in 0.18 μm Low-Voltage CMOS Technology
    Huang, Haiyun ; Xu, Yue
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 9 (2021), S. 820-826
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    Characterization and Modeling of Self-Heating in Nanometer Bulk-CMOS at Cryogenic Temperatures
    P. A. T Hart ; Babaie, M. ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 9 (2021), S. 891-901
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    An RF Stress-Based Thermal Shock Test Method for a CMOS Power Amplifier
    Zhou, Shaohua ; Wang, Jian
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 9 (2021), S. 1024-1029
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