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    The Impact of LCE and PAMDLE Regarding Different CMOS ICs Nodes and High Temperatures
    Salvador Pinillos Gimenez ; Renaux, Christian ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 9 (2021), S. 415-423
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    Analysis of CMOS Extended-Gate Field-Effect Transistor With On-Chip Window Based on Uricase/RuO2 Sensing Film
    Kuo, Po-Yu ; Chen, Yung-Yu ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 9 (2021), S. 995-1002
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    Analytical Modeling of Exposure Process in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors
    Yuchen, Gong ; Gao, Jing ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 8 (2020), S. 1063-1071
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    Comparison of LER Induced Mismatch in NWFET and NSFET for 5-nm CMOS
    Gupta, Anshul ; Vega, Reinaldo A. ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 8 (2020), S. 1184-1192
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    A CMOS Low Power Current Source Tunable Inductor With 80% Tuning Range for RFIC
    Norlaili Mohd Noh ; Ibrahim, Shahrolhafiz S. ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 8 (2020), S. 1210-1218
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    Simulation of CMOS APS Operation and Crosstalk in SPICE With Generalized Devices
    Sallese, Jean-Michel ; Rossi, Chiara
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 8 (2020), S. 376-384
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    Fabrication of CMOS Invertors in Si Thin-Film-Transistors by Laser Doping Using a Chemical Solution Coating
    Goto, Tetsuya ; Suwa, Akira ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 8 (2020), S. 27-32
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    Silicon Photomultipliers With Area Up to 9 mm2 in a 0.35- <tex-math notation='LaTeX'>$\mu$ </tex-math>m CMOS Process
    Brockherde, Werner ; Xie, Qingguo ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 7 (2019), S. 239-251
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    Ultrahigh-Sensitive CMOS pH Sensor Developed in the BEOL of Standard 28 nm UTBB FDSOI
    Souifi, Abdelkader ; Drouin, Dominique ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 6 (2018), S. 1026-1032
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    High Conversion-Gain Pinned-Photodiode Pump-Gate Pixels in 180-nm CMOS Process
    Hondongwa, Donald ; Chen, Song ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 5 (2017-11-01), S. 509-517
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    P-Channel and N-Channel Super-Steep Subthreshold Slope PN-Body Tied SOI-FET for Ultralow Power CMOS
    Mori, Takayuki ; Ida, Jiro
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 6 (2018), S. 1213-1219
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    Gettering Sinks for Metallic Impurities Formed by Carbon-Cluster Ion Implantation in Epitaxial Silicon Wafers for CMOS Image Sensor
    Sueoka, Koji ; Hirose, Ryo ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 6 (2018), S. 1200-1206
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    An Improved Model for the Full Well Capacity in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors
    Cao, Chen ; Shen, Benlan ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 3 (2015), Heft 4, S. 306-310
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    A Review of the Pinned Photodiode for CCD and CMOS Image Sensors
    Fossum, Eric R. ; Hondongwa, Donald
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 2 (2014), Heft 3, S. 33-43
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    Extraction and Estimation of Pinned Photodiode Capacitance in CMOS Image Sensors
    Chen, Yi-Che ; Chou, Kuo-Yu ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 2 (2014-07-01), S. 59-64
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    Pixel Level Characterization of Pinned Photodiode and Transfer Gate Physical Parameters in CMOS Image Sensors
    Pelamatti, Alice ; Estribeau, Magali ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, 2014-07-01
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    CMOS-SOI-MEMS Uncooled Infrared Security Sensor With Integrated Readout
    Saraf, Tomer ; Blank, Tanya ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 4 (2016), Heft 3, S. 155-162
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    Optically Powered Energy Source in a Standard CMOS Process for Integration in Smart Dust Applications
    Liu, Jingjing ; Choubey, Bhaskar ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 2 (2014-11-01), S. 158-163
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    Characterization and Modeling of 28-nm Bulk CMOS Technology Down to 4.2 K
    Jazaeri, Farzan ; Beckers, Arnout ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 6, S. 1007-1018
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    1T1C FeRAM Memory Array Based on Ferroelectric HZO With Capacitor Under Bitline
    Tsukamoto, Masanori ; Mikolajick, Thomas ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 10 (2022), S. 29-34
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xs 0 - 576
sm 576 - 768
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xl 1200 - 1366
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