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    Optical Sensing of Chlorophyll(in) With Dual-Spectrum Si LEDs in SOI-CMOS Technology
    Dutta, Satadal ; Verbiest, G.J. ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 22 (2022-06-15), S. 11280-11289
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    CMOS ISFETs With 3D-Truncated Sensing Structure Resistant to Scaling Attenuation and Trapped Charge-Induced Offset
    Teng, Nan-Yuan ; Lin, Chih-Ting
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 21 (2021-12-15), S. 27282-27289
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    Reduced Drift of CMOS ISFET pH Sensors Using Graphene Sheets
    Fobelets, Kristel ; Panteli, Christoforos ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 21 (2021-07-01), S. 14609-14618
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    Time-Gated and Multi-Junction SPADs in Standard 65 nm CMOS Technology
    Jiang, Wei ; Scott, Ryan P. ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 21 (2021-05-15), S. 12092-12103
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    A CMOS-MEMS Accelerometer With U-Channel Suspended Gate SOI FET
    Seena, V. ; Kadayinti, Naveen ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 21 (2021-05-01), S. 10465-10472
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    Sensing Characteristic Enhancement of CMOS-Based ISFETs With Three-Dimensional Extended- Gate Architecture
    Wang, Rui-Xing ; Lin, Chih-Ting ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 21 (2021-04-01), S. 8831-8838
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    Single Microhole per Pixel in CMOS Image Sensors With Enhanced Optical Sensitivity in Near-Infrared
    Yamada, Toshishige ; M. Saif Islam ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 21 (2021-05-01), S. 10556-10562
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    Optical and Electrical Characterization and Modeling of Photon Detection Probability in CMOS Single-Photon Avalanche Diodes
    Mahmoudi, Hiwa ; Steindl, Bernhard ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 21 (2021-03-15), S. 7572-7580
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    A CMOS Test Chip With Simple Post-Processing Steps for Dry Characterization of ISFET Arrays
    Márcio Cherem Schneider ; Rambo, Carlos R. ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 21 (2021-02-15), S. 4755-4763
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    CMOS Biosensors for the Detection of DNA Hybridization in High Ionic-Strength Solutions
    Lee, Chieh ; Michael S.-C. Lu ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 21 (2021-02-15), S. 4135-4142
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    An Ultra-Low Power CMOS Integrated Pulse-Width Modulated Temperature Sensor
    Bai, Zhidong ; Azam, Ali ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 21 (2021-01-15), S. 1294-1304
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Development of CMOS Micromachined Capacitive Squeeze-Film Pressure Sensors
    Chiu, Jason ; Hsieh, Kuan-Yu ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 20 (2020-09-01), S. 9698-9705
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    CMOS Ion Sensitive Field Effect Transistors for Highly Sensitive Detection of DNA Hybridization
    Chang, Chieh-Feng ; Michael S.-C. Lu
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 20 (2020-08-15), S. 8930-8937
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    Size Independent Sensitivity to Biomolecular Surface Density Using Nanoscale CMOS Technology Transistors
    Hellings, Geert ; Santermans, Sybren ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 20 (2020-08-15), S. 8956-8964
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    On the Spectral Quality of Time-Resolved CMOS SPAD-Based Raman Spectroscopy With High Fluorescence Backgrounds
    Nissinen, Ilkka ; Kekkonen, Jere ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 20 (2020-05-01), S. 4635-4645
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    High Sensitivity and Wide Dynamic Range Thermoresistive Micro Calorimetric Flow Sensor With CMOS MEMS Technology
    Xu, Wei ; Lee, Yi-Kuen ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 20 (2020-04-15), S. 4104-4111
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    Parallel 1024-ch Cyclic Voltammetry on Monolithic CMOS Electrochemical Detector Array
    Mulberry, Geoffrey ; Kim, Brian N. ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 20 (2020-04-15), S. 4395-4402
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    A CMOS Read-Out IC for Cyanobacteria Detection With 40 nApp Sensitivity and 45-dB Dynamic Range
    He, Ying ; Sung Min Park ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 20 (2020-04-15), S. 4283-4289
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    Analysis and Modeling of Spill Back Effect in High Illumination CMOS Image Sensors
    Gao, Zhiyuan ; Han, Liqiang ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 20 (2020-03-15), S. 3024-3031
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    Development of the Backside Loading Inductive Tactile Force Sensor Using the Flip-Chip Bonding of CMOS Sensing Chip
    Yeh, Sheng-Kai ; Fang, Weileun ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 20 (2020-03-15), S. 2868-2876
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