Suchergebnisse
UB Katalog
Artikel & mehr
Suchmaske
Suchergebnisse einschränken oder erweitern
Aktive Suchfilter
Weniger Treffer
Gefunden in
Art der Quelle
Schlagwort
- gain 26 Treffer
- radio frequency 24 Treffer
- impedance 17 Treffer
- power generation 16 Treffer
- bandwidth 15 Treffer
-
45 weitere Werte:
- cmos 15 Treffer
- transistors 14 Treffer
- receivers 12 Treffer
- switches 12 Treffer
- frequency measurement 10 Treffer
- mixers 10 Treffer
- power amplifier (pa) 10 Treffer
- power amplifiers 9 Treffer
- 5g 8 Treffer
- harmonic analysis 8 Treffer
- inductors 8 Treffer
- capacitance 6 Treffer
- sensitivity 6 Treffer
- band-pass filters 5 Treffer
- capacitors 5 Treffer
- cmos technology 5 Treffer
- linearity 5 Treffer
- phase noise 5 Treffer
- power demand 5 Treffer
- solid state circuits 5 Treffer
- transceivers 5 Treffer
- wideband 5 Treffer
- antennas 4 Treffer
- clocks 4 Treffer
- couplers 4 Treffer
- couplings 4 Treffer
- frequency modulation 4 Treffer
- gain measurement 4 Treffer
- logic gates 4 Treffer
- millimeter-wave 4 Treffer
- noise measurement 4 Treffer
- n-path filter 4 Treffer
- resistance 4 Treffer
- semiconductor device measurement 4 Treffer
- 5g mobile communication 3 Treffer
- baseband 3 Treffer
- bicmos 3 Treffer
- d-band 3 Treffer
- delays 3 Treffer
- frequency doubler 3 Treffer
- frequency multiplier 3 Treffer
- gan 3 Treffer
- harmonic rejection 3 Treffer
- impedance matching 3 Treffer
- inductance 3 Treffer
66 Treffer
-
In: IEEE Solid-State Circuits Letters, Jg. 7 (2024), S. 147-150Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Solid-State Circuits Letters, Jg. 7 (2024), S. 66-69Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Solid-State Circuits Letters, Jg. 4 (2021), S. 36-39Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Solid-State Circuits Letters, Jg. 3 (2020), S. 178-181Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Solid-State Circuits Letters, Jg. 1 (2018), Heft 1, S. 2-2Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Solid-State Circuits Letters, Jg. 1 (2018-04-01), Heft 4, S. 102-102Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Solid-State Circuits Letters, Jg. 1 (2018-03-01), Heft 3, S. 58-58Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Solid-State Circuits Letters, Jg. 7 (2024), S. 46-49Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Solid-State Circuits Letters, Jg. 6 (2023), S. 1-4Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Solid-State Circuits Letters, Jg. 6 (2023), S. 137-140Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Solid-State Circuits Letters, Jg. 6 (2023), S. 205-208Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Solid-State Circuits Letters, Jg. 5 (2022), S. 214-217Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Solid-State Circuits Letters, Jg. 4 (2021), S. 44-47Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Solid-State Circuits Letters, Jg. 4 (2021), S. 64-67Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Solid-State Circuits Letters, Jg. 4 (2021), S. 40-43Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Solid-State Circuits Letters, Jg. 4 (2021), S. 174-177Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Solid-State Circuits Letters, Jg. 4 (2021), S. 150-153Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Solid-State Circuits Letters, Jg. 7 (2024), S. 167-170Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Solid-State Circuits Letters, Jg. 7 (2024), S. 111-114Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Solid-State Circuits Letters, Jg. 7 (2024), S. 94-97Online academicJournalZugriff: