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    Snapshots by quantum dots: Look out, CMOS image sensors. There's a new kid in camera-town
    Palomaki, Peter ; Keuleyan, Sean
    In: IEEE spectrum, Jg. 57 (2020), Heft 3, S. 24-29
    Online serialPeriodical
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    5 Questions for Julien Ryckaert: Why CMOS 2.0 is the Next Phase of Moore's Law
    Moore, Samuel K.
    In: IEEE Spectrum, Jg. 61 (2024), Heft 3, S. 21-21
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Identifying defects in deep-submicron CMOS ICs
    Soden, J. M. ; Hawkins, C. F. ; et al.
    In: IEEE SPECTRUM, Jg. 33 (1996), Heft 9, S. 66-71
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    New CMOS imager threatens CCD supremacy.
    Gwynne, Peter
    In: IEEE Spectrum, Jg. 38 (2001), Heft 1, S. 2
    Online serialPeriodical
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    Wie komme ich dran?
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    Silicon slivers for flexible circuits: printing CMOS on plastic.
    Jones, Willie D.
    In: IEEE Spectrum, Jg. 45 (2008-03-01), Heft 3, S. 1
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Pushing the limits of standard CMOS: circuit refinements helped by computer-aided design raise clock rates by an order of magnitude.
    Yuan, Jiren ; Svensson, Christer
    In: IEEE Spectrum, Jg. v28 (1991-02-01), Heft n2, S. 2
    Online serialPeriodical
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    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    serialPeriodical
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    The faults in CMOS IC fault testing.
    In: IEEE Spectrum, Jg. v27 (1990-12-01), Heft n12, S. 1
    Online serialPeriodical
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    Solid state: The case for CMOS: Its low power consumption and many design choices mean that by the decade's end, half of all ICs may be made by this technique
    Davies, Rick D.
    In: IEEE Spectrum, Jg. 20 (1983-10-01), Heft 10, S. 26-32
    Online serialPeriodical
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    The Case For CMOS.
    Davies, R.D.
    In: IEEE Spectrum, Jg. v20 (1983-10-01), Heft n10
    Online serialPeriodical
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    The faults in CMOS IC fault testing
    In: IEEE Spectrum, Jg. v27 (1990-12-01), Heft n12, S. 78-78
    Online serialPeriodical
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    Cmos comes of age
    Fullagar, David
    In: IEEE Spectrum, Jg. 17 (1980-12-01), Heft 12, S. 24-27
    Online serialPeriodical
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    BiCMOS circuitry: the best of both worlds
    Santo, Brian
    In: IEEE Spectrum, Jg. v26 (1989-05-01), Heft n5, S. 50-53
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Expert opinion: traditional mainframes and supercomputers are losing the battle
    Patterson, David A.
    In: IEEE Spectrum, Jg. v29 (1992), Heft n1, S. 34-34
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Wanlass's CMOS circuit.
    Riezenman, M.J.
    In: IEEE Spectrum, Jg. 28 (1991-01-05), Heft 5, S. 44-44
    Online serialPeriodical
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    James M. Early on Solid State: The Theoretical Ideals Come Ever Closer
    Early, J.M.
    In: IEEE Spectrum, Jg. v21 (1984), Heft n1, S. 38
    Online serialPeriodical
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Transistor wars.
    Ahmed, Khaled ; Schuegraf, Klaus
    In: IEEE Spectrum, Jg. 48 (2011-11-01), Heft 11, S. 50-50
    Online serialPeriodical
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Gadgets Gab at 60 GHz.
    Razavi, Behzad
    In: IEEE Spectrum, Jg. 45 (2008-02-01), Heft 2, S. 46-52
    Online serialPeriodical
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    The incredible shrinking transistor.
    Taur, Yuan
    In: IEEE Spectrum, Jg. 36 (1999-07-01), Heft 7, S. 25-29
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    The ultimate switch.
    Sung, Chun-Yung ; Lee, Ji
    In: IEEE Spectrum, Jg. 49 (2012-02-01), Heft 2, S. 32-32
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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