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  1. Lai, Z. ; Sen, B. ; et al.
    In: IEEE TENCON, , S. 375-378
    Konferenz
  2. Yeung, M. S. ; Wong, P. C.
    In: IEEE TENCON, , S. 452-455
    Konferenz
  3. Schneeberger, N. ; Deteindre, S. ; et al.
    In: IEEE TENCON, , S. 198-201
    Konferenz
  4. Cheung, T. S. ; Asada, K. ; et al.
    In: IEEE TENCON, , S. 311-314
    Konferenz
  5. Piguet, C.
    In: IEEE TENCON, , S. 299-302
    Konferenz
  6. Min, K. S. ; Lee, K.
    In: IEEE TENCON, , S. 210-213
    Konferenz
  7. Bracey, M. ; Redman-White, W. ; et al.
    In: IEEE TENCON, , S. 143-146
    Konferenz
  8. Ning, T. H.
    In: IEEE TENCON, , S. 1-4
    Konferenz
  9. Jia, X. L. ; Huang, W. ; et al.
    In: IEEE TENCON, , S. 135-136
    Konferenz
  10. Qin, S. C. ; Jia, X. L. ; et al.
    In: IEEE TENCON, , S. 141-142
    Konferenz
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sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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