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    Symbolic Failure Analysis of Complex CMOS Circuits Due to Excessive Leakage Current and Charge Sharing.
    Bahar, R. Iris ; Song, Hui-Yuan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits & Systems, Jg. 24 (2005-04-01), Heft 4, S. 502-515
    Online academicJournal
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    Logical Effort Model Extension to Propagation Delay Representation.
    Lasbouygues, Benoit ; Engels, Sylvain ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits & Systems, Jg. 25 (2006-09-01), Heft 9, S. 1677-1684
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Digital Ground Bounce Reduction by Supply Current Shaping and Clock Frequency Modulation.
    Badaroglu, Mustafa ; Wambacq, Piet ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits & Systems, Jg. 24 (2005), Heft 1, S. 65-76
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -