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    Modeling and Analysis of Loading Effect on Leakage of Nanoscaled Bulk-CMOS Logic Circuits.
    Mukhopadhyay, Saibal ; Bhunia, Swarup ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits & Systems, Jg. 25 (2006-08-01), Heft 8, S. 1486-1495
    Online academicJournal
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    Experimental Characterization of CMOS Interconnect Open Defects.
    Arumí, Daniel ; Rodríguez-Montañés, Rosa ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits & Systems, Jg. 27 (2008), Heft 1, S. 123-136
    Online academicJournal
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    Volltext
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    Built-In Self-Test, Diagnosis, and Repair of MultiMode Power Switches.
    Wang, Ran ; Zhang, Zhaobo ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits & Systems, Jg. 33 (2014-08-01), Heft 8, S. 1231-1244
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Electrical model of the floating gate defect in CMOS IC's: implications on IDDQ testing.
    Champac, Victor H. ; Rubio, Antonio ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits & Systems, Jg. 13 (1994-03-01), S. 359-369
    Online academicJournal
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    Exploring Spin-Transfer-Torque Devices for Logic Applications.
    Pajouhi, Zoha ; Venkataramani, Swagath ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits & Systems, Jg. 34 (2015-09-01), Heft 9, S. 1441-1454
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Diagnosis of Interconnect Full Open Defects in the Presence of Fan-Out.
    Arumi, Daniel ; Rodriguez-Montanes, Rosa ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits & Systems, Jg. 30 (2011-12-01), Heft 12, S. 1911-1922
    Online academicJournal
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    Temperature- and Voltage-Aware Timing Analysis.
    Lasbouygues, Benoit ; Wilson, Robin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits & Systems, Jg. 26 (2007-04-01), Heft 4, S. 801-815
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    A Second-Order Surface Potential Core Model for Submicron MOSFETs.
    Colalongo, Luigi ; Richelli, Anna
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits & Systems, Jg. 41 (2022-08-01), Heft 8, S. 2652-2656
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    SCERPA: A Self-Consistent Algorithm for the Evaluation of the Information Propagation in Molecular Field-Coupled Nanocomputing.
    Ardesi, Yuri ; Wang, Ruiyu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits & Systems, Jg. 39 (2020-10-01), Heft 10, S. 2749-2760
    Online academicJournal
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    2-D Modeling of Dual-Gate MOSFET Devices Using Quintic Splines.
    Wolfson, Scott C. ; Ho, Fat D.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits & Systems, Jg. 38 (2019-03-01), Heft 3, S. 480-488
    Online academicJournal
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    Gate-Sizing-Based Single Vdd Test for Bridge Defects in Multivoltage Designs.
    Khursheed, Saqib ; Al-Hashimi, Bashir M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits & Systems, Jg. 29 (2010-09-01), Heft 9, S. 1409-1421
    Online academicJournal
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Mapping Statistical Process Variations Toward Circuit Performance Variability: An Analytical Modeling Approach.
    Cao, Yu ; Clark, Lawrence T.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits & Systems, Jg. 26 (2007-10-01), Heft 10, S. 1866-1873
    Online academicJournal
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    Fault Modeling and Detection for Drowsy SRAM Caches.
    Pei, Wei ; Jone, Wen-Ben ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits & Systems, Jg. 26 (2007-06-01), Heft 6, S. 1084-1100
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    An automatic biasing scheme for tracing arbitrarily shaped I-V curves.
    Goossens, Ronald J. G. ; Beebe, Stephen ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits & Systems, Jg. 13 (1994-03-01), S. 310-317
    Online academicJournal
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