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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Stochastic Propagation Delay Through a CMOS Inverter as a Consequence of Stochastic Power Supply Voltage—Part I: Model Formulation.
    Dietz, David
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 61 (2019-02-01), Heft 1, S. 226-232
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Stochastic Propagation Delay Through a CMOS Inverter as a Consequence of Stochastic Power Supply Voltage—Part II: Modeling Examples.
    Dietz, David
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 61 (2019-02-01), Heft 1, S. 233-241
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    An EMI-Resistant Common-Mode Cancelation Differential Input Stage in UMC 180 nm CMOS.
    Richelli, Anna ; Kennedy, Simon ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 59 (2017-12-01), Heft 6, S. 2049-2051
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Bulk-Driven CMOS Amplifier With High EMI Immunity.
    Li, Hong Ge ; Bai, Hui Xin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 57 (2015-12-01), Heft 6, S. 1425-1434
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Predictive Modeling for Estimating the Limits for Nonpersistent Effects in MOSFET Response Under Large Signal Gate Injection.
    Sule, Nishchay H. ; Abedi, Zahra ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 62 (2020-10-01), Heft 5, S. 1763-1771
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    A Generic EMI-Immune Technique for Differential Amplifiers With Single-Ended Output.
    Pudi N S, Anjan Kumar ; Redoute, Jean-Michel ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 60 (2018-08-01), Heft 4, S. 958-964
    Online academicJournal
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    A High-PSR EMI-Resistant NMOS-Only Voltage Reference Using Zero- $V_T$ Active Loads.
    Cordova, David ; Toledo, Pedro ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 59 (2017-08-15), Heft 4, S. 1347-1355
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Design of Schmitt Trigger Logic Gates Using DTMOS for Enhanced Electromagnetic Immunity of Subthreshold Circuits.
    Kim, Kyungsoo ; Kim, So ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 57 (2015-10-01), Heft 5, S. 963-972
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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