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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Latch-Up Prevention With Autodetector Circuit to Stop Latch-Up Occurrence in CMOS-Integrated Circuits
    Jiang, Zi-Hong ; Ker, Ming-Dou
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 64 (2022), Heft 6, S. 1785-1792
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Stochastic Propagation Delay Through a CMOS Inverter as a Consequence of Stochastic Power Supply Voltage—Part I: Model Formulation.
    Dietz, David
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 61 (2019-02-01), Heft 1, S. 226-232
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Compact CMOS Miller OpAmp With High EMI-Immunity
    Gundla, Jagapathi ; Boyapati, Subrahmanyam ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 62 (2020), Heft 6, S. 2394-2400
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Analysis of System-Level ESD-Induced Soft Failures in a CMOS Microcontroller
    Vora, Sandeep ; Rosenbaum, Elyse
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 62 (2020), Heft 6, S. 2679-2688
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    A Multiresolution Time Domain (MRTD) Method for Crosstalk Noise Modeling of CMOS-Gate-Driven Coupled MWCNT Interconnects
    Rebelli, Shashank ; Nistala, Bheema Rao
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 62 (2020), Heft 2, S. 521-531
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Efficient Jitter Analysis for a Chain of CMOS Inverters
    Tripathi, Jai Narayan ; Arora, Puneet ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 62 (2020), Heft 1, S. 229-239
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Efficient Jitter Analysis for a Chain of CMOS Inverters
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 62 (2020), Heft 1, S. 229-239
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Frequency-Response-Oriented Design and Optimization of N+ Diffusion Guard Ring in Lightly Doped CMOS Substrate.
    Zhang, Le ; Li, Er-Ping ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 59 (2017-04-01), Heft 2, S. 481-487
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Chaotic Oscillations in a CMOS Inverter Coupled With ESD Protection Circuits Under Radio Wave Excitation
    MYUNGHWAN, PARK ; RODGERS, John C ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 56 (2014), Heft 3, S. 530-538
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Compact CMOS Miller OpAmp With High EMI-Immunity
    Boyapati, Subrahmanyam ; Gundla, Jagapathi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 62 (2020-12-01), S. 2394-2400
    Online unknown
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    View record in OpenAIRE (Volltext)
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    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Latch-Up Prevention With Autodetector Circuit to Stop Latch-Up Occurrence in CMOS-Integrated Circuits
    Jiang, Zi-Hong ; Ker, Ming-Dou
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 64 (2022-12-01), S. 1785-1792
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Susceptibility of CMOS Voltage Comparators to Radio Frequency Interference
    FIORI, Franco
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 54 (2012), Heft 2, S. 434-442
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Analysis of System-Level ESD-Induced Soft Failures in a CMOS Microcontroller
    Rosenbaum, Elyse ; Vora, Sandeep
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 62 (2020-12-01), S. 2679-2688
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Study of Basic Effects of HPM Pulses in Digital CMOS Integrated Circuit Inputs
    HOLLOWAY, Michael A ; DILLI, Zeynep ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 54 (2012), Heft 5, S. 1017-1027
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Increasing EMI Immunity in Novel Low-Voltage CMOS OpAmps
    RICHELLI, Anna
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 54 (2012), Heft 4, S. 947-950
    Online academicJournal
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Transient-to-Digital Converter for System-Level Electrostatic Discharge Protection in CMOS ICs
    KER, Ming-Dou ; YEN, Cheng-Cheng
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 51 (2009), Heft 3, S. 620-630
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Generic and Accurate Whitebox Behavioral Model for Fast Simulation of Analog Effects in Nanometer CMOS Digital Logic Circuits
    LOECKX, Johan ; GIELEN, Georges G. E
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 51 (2009), Heft 2, S. 351-357
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Stochastic Propagation Delay Through a CMOS Inverter as a Consequence of Stochastic Power Supply Voltage—Part I: Model Formulation
    Dietz, David
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 61 (2018), Heft 1, S. 226-232
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Stochastic Propagation Delay Through a CMOS Inverter as a Consequence of Stochastic Power Supply Voltage—Part II: Modeling Examples
    Dietz, David
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 61 (2018), Heft 1, S. 233-241
    Online serialPeriodical
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    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Stochastic Propagation Delay Through a CMOS Inverter as a Consequence of Stochastic Power Supply Voltage—Part II: Modeling Examples
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 61 (2018), Heft 1, S. 233-241
    Online serialPeriodical
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    Wie komme ich dran?
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