Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
101 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Verlag

Sprache

101 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Methodology to Predict EME Effects in CAN Bus Systems Using VHDL-AMS
    GÜRSOY, Mihriban ; JAHN, Stefan ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 50 (2008), Heft 4, S. 993-1002
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    System-Level Vulnerability Assessment for EME: From Fault Tree Analysis to Bayesian Networks—Part I: Methodology Framework
    Mao, C. ; Canavero, F.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY, Jg. 58 (2016), Heft 1, S. 180-187
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    System-Level Vulnerability Assessment for EME: From Fault Tree Analysis to Bayesian Networks—Part II: Illustration to Microcontroller System
    Mao, C. ; Canavero, F. G. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY, Jg. 58 (2016), Heft 1, S. 188-196
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    System-level vulnerability assessment for eme: from fault tree analysis to Bayesian networks-part I: methodology framework
    Mao, Congguang ; Canavero, Flavio
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 58 (2016-02-01), Heft 1, S. 180-187
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    System-level vulnerability assessment for EME: from fault tree analysis to Bayesian networks-part II: illustration to microcontroller system
    Mao, Congguang ; Canavero, lavio G. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 58 (2016-02-01), Heft 1, S. 188-196
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    System-Level Vulnerability Assessment for EME: From Fault Tree Analysis to Bayesian Networks—Part I: Methodology Framework
    Canavero, Flavio ; Mao, Congguang
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 58 (2016-02-01), S. 180-187
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Methodology to Predict EME Effects in CAN Bus Systems Using VHDL-AMS
    Deutschmann, Bernd ; Jahn, S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 50 (2008-11-01), S. 993-1002
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    An On-Chip Power Supply Regulator to Reduce the Switching Noise
    JUNFENG, ZHOU ; DEHAENE, Wim
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 53 (2011), Heft 1, S. 157-168
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    A Rational Basis for Determining the EME Capability of a System
    Schulz, Richard B.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 1974-05-01, S. 109-114
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    High-Frequency Electromagnetic Simulation and Optimization for GaN-HEMT Power Amplifier IC.
    Sangwan, Vivek ; Kapoor, Dipesh ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 61 (2019-04-01), Heft 2, S. 564-571
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Estimation of the peak power density in the vicinity of cellular and radio base station antennas
    CICCHETTI, Renato ; FARAONE, Antonio
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 46 (2004), Heft 2, S. 275-290
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Design of an Integrated Switching Antenna for Shielding Effectiveness Testing of Small Enclosures From 1 MHz to 100 MHz
    Chen, Ronghao ; Wu, Qi
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 66 (2024-02-01), Heft 1, S. 3-12
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    A Rational Basis for Determining the EME Capability of a System.
    Schulz, Richard
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. EMC-16 (1974-01-02), Heft 2, S. 109-114
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    An On-Chip Power Supply Regulator to Reduce the Switching Noise.
    Zhou, Junfeng ; Dehaene, Wim
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 53 (2011-02-01), Heft 1, S. 157-168
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Classification of Electronic Devices and Software Processes via Unintentional Electronic Emissions With Neural Decoding Algorithms.
    Mariano, Laura J. ; Aubuchon, Alexander ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 62 (2020-04-01), Heft 2, S. 470-477
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Ambient Power Density and Electric Field From Broadband Wireless Emissions in a Reverberant Space.
    Tait, Gregory B. ; Hager IV, Carl E. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 58 (2016-02-01), Heft 1, S. 307-313
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -