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    Design of Coupled Slow-Wave CPW Millimeter-Wave Bandpass Filter Beyond 100 GHz in 55-nm BiCMOS Technology.
    Saadi, Abdelhalim A. ; Margalef-Rovira, Marc ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-09-01), Heft 9, S. 4259-4266
    Online academicJournal
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    RF Small- and Large-Signal Characteristics of CPW and TFMS Lines on Trap-Rich HR-SOI Substrates.
    Kazemi Esfeh, Babak ; Rack, Martin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-08-01), Heft 8, S. 3120-3126
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    High-Performance On-Chip Low-Pass Filters Using CPW and Slow-Wave-CPW Transmission Lines on Porous Silicon.
    Sarafis, Panagiotis ; Nassiopoulou, Androula G. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), Heft 1, S. 439-445
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Performance Improvement Versus CPW and Loss Distribution Analysis of Slow-Wave CPW in 65 nm HR-SOI CMOS Technology.
    Tang, Xiao-Lan ; Franc, Anne-Laure ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 59 (2012-05-01), Heft 5, S. 1279-1285
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    CPW Tunable Band-Stop Filter Using Hybrid Resonator and Employing RF MEMS Capacitors.
    Zhang, Naibo ; Deng, Zhongliang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 60 (2013-08-01), Heft 8, S. 2648-2655
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Low-Cost CPW Meander Inductors Utilizing Ink-Jet Printing on Flexible Substrate for High-Frequency Applications.
    Menicanin, Aleksandar B. ; Zivanov, Ljiljana D. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 60 (2013-02-01), Heft 2, S. 827-832
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    RF Harmonic Distortion of CPW Lines on HR-Si and Trap-Rich HR-Si Substrates.
    Neve, Cesar Roda ; Raskin, Jean-Pierre
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 59 (2012-04-01), Heft 4, S. 924-932
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Loss Reduction Technique in Ferroelectric Tunable Devices by Laser Microetching. Application to a CPW Stub Resonator in $X$ -Band.
    Corredores, Yonathan ; Simon, Quentin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 61 (2014-12-01), Heft 12, S. 4166-4170
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Modeling of Semiconductor Substrates for RF Applications: Part II—Parameter Impact on Harmonic Distortion.
    Rack, M. ; Allibert, F. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-09-01), Heft 9, S. 4606-4613
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Low-Loss Characteristics of Metal-Foil-Based Passive Components by Surface-Activated Bonding Technologies.
    Matsuura, Keita ; Liang, Jianbo ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-09-01), Heft 9, S. 3946-3952
    Online academicJournal
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    Volltext
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Loss Measurement of Aluminum Thin-Film Coplanar Waveguide (CPW) Lines at Microwave Frequencies.
    Ramazani, Maliheh ; Miladi, Haddad ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 57 (2010-08-01), Heft 8, S. 2037-2040
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Modeling of Semiconductor Substrates for RF Applications: Part I—Static and Dynamic Physics of Carriers and Traps.
    Rack, M. ; Allibert, F. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-09-01), Heft 9, S. 4598-4605
    Online academicJournal
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    Cu Nanolines for RF Interconnects: Electrical Characterization.
    Sarafis, Panagiotis ; Hsu, Chuan-Lu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 62 (2015-05-01), Heft 5, S. 1537-1543
    Online academicJournal
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    Coupling Mechanisms and Effects Between On-Chip Antenna and Inductor or Coplanar Waveguide.
    Deng, Tianwei ; Chen, Zhiming ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 60 (2013), Heft 1, S. 20-27
    Online academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Analysis of Optical and Electrical Responses of $\boldsymbol{\mu}$ -OLED With Metallized ITO Coplanar Waveguide Electrodes Submitted to Nanosecond Electrical Pulses.
    Chime, A. C. ; Fischer, A. P. A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-05-01), Heft 5, S. 2282-2289
    Online academicJournal
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Compact On-Wafer Test Structures for Device RF Characterization.
    Kazemi Esfeh, Babak ; Ben Ali, Khaled ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-08-01), Heft 8, S. 3101-3107
    Online academicJournal
    Zugriff:
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Vanadium Oxide Thin-Film Variable Resistor-Based RF Switches.
    Pan, Kuan ; Chang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 62 (2015-09-01), Heft 9, S. 2959-2965
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    Photo-Induced Coplanar Waveguide RF Switch and Optical Crosstalk on High-Resistivity Silicon Trap-Rich Passivated Substrate.
    Ali, Khaled Ben ; Neve, Cesar Roda ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 60 (2013-10-01), Heft 10, S. 3478-3484
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    Modeling Transmission Lines on Silicon in the Frequency and Time Domains from S-Parameters.
    Sejas-Garcia, Svetlana C. ; Torres-Torres, Reydezel ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 59 (2012-06-01), Heft 6, S. 1803-1806
    Online academicJournal
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    Localized Backside Etching Structure of SOI Substrates on Total Ionizing Dose Effect Hardening for RF Applications.
    Zhao, Biyao ; Bi, Jinshun ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-05-01), Heft 5, S. 2256-2261
    Online academicJournal
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xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
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