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  1. In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-09-01), Heft 9, S. 3813-3813
    Online academicJournal
  2. In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-09-01), Heft 9, S. 3812-3812
    Online academicJournal
  3. In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-08-01), Heft 8, S. 3365-3365
    Online academicJournal
  4. In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-08-01), Heft 8, S. 3364-3364
    Online academicJournal
  5. In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-07-01), Heft 7, S. 2980-2980
    Online academicJournal
  6. In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-07-01), Heft 7, S. 2981-2981
    Online academicJournal
  7. In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-06-01), Heft 6, S. 2631-2631
    Online academicJournal
  8. In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-06-01), Heft 6, S. 2629-2629
    Online academicJournal
  9. In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-06-01), Heft 6, S. 2630-2630
    Online academicJournal
  10. In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-05-01), Heft 5, S. 2227-2227
    Online academicJournal
  11. In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-05-01), Heft 5, S. 2228-2228
    Online academicJournal
  12. Wei, Jie ; Ma, Zhen ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-08-01), Heft 8, S. 4168-4172
    Online academicJournal
  13. Doshi, Parag ; Mejia, Jose
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 44 (1997-09-01), Heft 9, S. 1417-1424
    Online academicJournal
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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