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    Signal-to-Noise Ratio Enhancement in Cardiac Pulse Measurements Using Multitap CMOS Image Sensors With In-Pixel Temporal Redundant Samplings
    Cao, Chen ; Aoyama, Satoshi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-06-01), S. 2851-2857
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    2-D Photon-Detection-Probability Simulation and a Novel Guard-Ring Design for Small CMOS Single-Photon Avalanche Diodes
    Hsien, Chin-An ; Liu, Chun-Hsien ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-06-01), S. 2873-2878
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    Highly Linear RMS Microwave Power Sensor Joule-Heating-Based Using CMOS Technology
    Li, Jian-Hua ; Liao, Xiaoping
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-06-01), S. 3263-3268
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    Self-Powered Implantable CMOS Photovoltaic Cell With 18.6% Efficiency
    Zhao, Jinwei ; Parvizi, Roghaieh ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-06-01), S. 3149-3154
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    Toward Monolithically Integrated Hybrid CMOS-NEM Circuits
    Horace-Herron, Kelsey ; Usai, Giulia ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-12-01), S. 6430-6436
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    Advancing Monolayer 2-D nMOS and pMOS Transistor Integration From Growth to Van Der Waals Interface Engineering for Ultimate CMOS Scaling
    Naylor, Carl H. ; Dorow, Chelsey ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-12-01), S. 6592-6598
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    A Study on the Isolation Ability of <u>LOC</u>al <u>O</u>xidation of <u>SiC</u> (LOCOSiC) for 4H-SiC CMOS Process
    Chia Lung Hung ; Yu Xin Wen ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-12-01), S. 6644-6647
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    TCAD-Based Assessment of the Lateral GAA Nanosheet Transistor for Future CMOS
    Fossum, Jerry G. ; Ya Chi Huang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-12-01), S. 6586-6591
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    Highly Reliable and Secure PUF Using Resistive Memory Integrated Into a 28 nm CMOS Process
    Esatu, Tsegereda K. ; Prakash, Amit ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-05-01), S. 2291-2296
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    Gate-Controlled LVTSCR for High-Voltage ESD Protections in Advanced CMOS Processes
    Chen, Ruibo ; Liu, Hongxia ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-04-01), S. 1566-1573
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    Effective Channel Mobility Extraction and Modeling of 10-nm Bulk CMOS FinFETs in Cryogenic Temperature Operation for Quantum Computing Applications
    Gupta, Sumreti ; Sujit Kumar Singh ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-04-01), S. 1815-1822
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    CFET SRAM DTCO, Interconnect Guideline, and Benchmark for CMOS Scaling
    Liu, Hsiao-Hsuan ; Salahuddin, Shairfe M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-03-01), S. 883-890
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    A CMOS Lock-In Pixel Image Sensor With Multisimultaneous Gate for Time-Resolved Near-Infrared Spectroscopy
    De Xing Lioe ; Fukushi, Yasuko ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-03-01), S. 1102-1108
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    Programming Strategy Optimization of RRAM Fabricated by 28 nm Standard CMOS Process
    Sun, Yue ; Wang, Xiaohu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-03-01), S. 1025-1028
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    Hybrid CMOS-RRAM True Random Number Generator Exploiting Coupled Entropy Sources
    Md Salim Equbal ; Ketkar, Tejas ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-03-01), S. 1061-1066
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    A 280-μ V Temporal Noise, 76-dB Dynamic Range CMOS Image Sensor With an In-Pixel Chopping-Based Low-Frequency Noise Reduction Technique
    Jainwal, Kapil ; Sarkar, Mukul
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-03-01), S. 1134-1142
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    Battery-Less Electronic Layer Detectors Array (ELDA) for In-Tool DUV Detection by FinFET CMOS Technology
    Chrong Jung Lin ; Lin, Wei-Hwa ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-10-01), S. 4972-4976
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    Mitigation of Parasitic Light Sensitivity in Global Shutter CMOS Image Sensors Through Use of Correction Frame
    Marcelot, Olivier ; Magnan, Pierre ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-09-01), S. 4491-4496
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    Low-Voltage, High-Brightness Silicon Micro-LEDs for CMOS Photonics
    Kramnik, Danielius ; Nong, H. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-08-01), S. 3870-3875
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    Benchmarking Silicon FinFET With the Carbon Nanotube and 2D-FETs for Advanced Node CMOS Logic Application
    Uttam Kumar Das ; Muhammad Mustafa Hussain
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-07-01), S. 3643-3648
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