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    Integration of TmSiO/HfO2 Dielectric Stack in Sub-nm EOT High-k/Metal Gate CMOS Technology
    Litta, Eugenio Dentoni ; Hellström, Per-Erik ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 62 (2015), Heft 3, S. 934-939
    Online unknown
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    Small-signal substrate resistance effect in RF CMOS identified through device simulations
    Hjelmgren, H ; Litwin, A
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 48 (2001), Heft 2, S. 397-399
    Online unknown
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    Comprehensive study on low-frequency noise and mobility in Si and SiGe pMOSFETs with high-κ gate dielectrics and TiN gate
    von Haartman, Martin ; Malm, Gunnar ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 53 (2006), Heft 4, S. 836-846
    Online unknown
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    Wafer-Scale Statistical Analysis of Graphene FETs-Part I: Wafer-Scale Fabrication and Yield Analysis
    Smith, Anderson D. ; Wagner, Stefan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017), Heft 9, S. 3919-3926
    Online unknown
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    Wafer-Scale Statistical Analysis of Graphene Field-Effect Transistors-Part II: Analysis of Device Properties
    Smith, Anderson D. ; Wagner, Stefan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017), Heft 9, S. 3927-3933
    Online unknown
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    Comprehensive and macrospin-based magnetic tunnel junction spin torque oscillator model-Part II: Verilog-A model implementation
    Chen, T. ; Eklund, A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 62 (2015), Heft 3, S. 1045-1051
    Online unknown
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  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Comprehensive and Macrospin-Based Magnetic Tunnel Junction Spin Torque Oscillator Model-Part II: Verilog-A Model Implementation
    Chen, Tingsu ; Eklund, Anders ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 62 (2015), Heft 3, S. 1045-1051
    Online unknown
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  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Thulium silicate interfacial layer for scalable high-k/metal gate stacks
    Dentoni Litta, Eugenio ; Hellström, Per-Erik ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 60 (2013), Heft 10, S. 3271-3276
    Online unknown
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  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    High-power SOI vertical DMOS transistors with lateral drain contacts: Process developments, characterization, and modeling
    Pinardi, Kuntjoro ; Heinle, Ulrich ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 51 (2004), Heft 5, S. 790-796
    Online unknown
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