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    A Low-Power Column-Parallel ΣΔ ADC With Shared OTAs and Single-Bit-BWI Decimation Filter for CMOS Image Sensor.
    Wang, Zhongjie ; Ma, Qiyun ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-06-01), Heft 6, S. 2979-2985
    Online academicJournal
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    A 2.7-M Pixels 64-mW CMOS Image Sensor With Multicolumn-Parallel Noise-Shaping SAR ADCs.
    Hwang, Sun-Il ; Chung, Jae-Hyun ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-03-01), Heft 3, S. 1119-1126
    Online academicJournal
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    CMOS Image Sensor With Two-Step Single-Slope ADC Using Differential Ramp Generator.
    Park, Sung-Yun ; Kim, Hyeon-June
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-10-01), Heft 10, S. 4966-4971
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    High Temperature Data Converters in Silicon Carbide CMOS.
    Rahman, Ashfaqur ; Caley, Landon ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-04-01), Heft 4, S. 1426-1432
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    A 500 °C 8-b Digital-to-Analog Converter in Silicon Carbide Bipolar Technology.
    Hedayati, Raheleh ; Lanni, Luigia ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-09-01), Heft 9, S. 3445-3450
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    An Area-Efficient and Low-Power 12-b SAR/Single-Slope ADC Without Calibration Method for CMOS Image Sensors.
    Kim, Min-Kyu ; Hong, Seong-Kwan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-09-01), Heft 9, S. 3599-3604
    Online academicJournal
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    Monolithic Integrated Normally OFF GaN Power Device With Antiparallel Lateral Schottky Barrier Controlled Schottky Rectifier.
    Bi, Lan ; Kang, Xuanwu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-04-01), Heft 4, S. 1778-1783
    Online academicJournal
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    A 1.7-in, 33-Mpixel, 120-frames/s CMOS Image Sensor With Depletion-Mode MOS Capacitor-Based 14-b Two-Stage Cyclic A/D Converters.
    Yasue, Toshio ; Kitamura, Kazuya ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), Heft 1, S. 153-161
    Online academicJournal
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    A Column-Parallel Inverter-Based Cyclic ADC for CMOS Image Sensor With Capacitance and Clock Scaling.
    Tang, Fang ; Wang, Bo ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), Heft 1, S. 162-167
    Online academicJournal
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    A High-Speed CMOS Image Sensor With Column-Parallel Two-Step Single-Slope ADCs.
    Lim, Seunghyun ; Lee, Jeonghwan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 56 (2009-03-01), Heft 3, S. 393-398
    Online academicJournal
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    A High-Speed CMOS Image Sensor With Column-Parallel Two-Step Single-Slope ADCs.
    Lim, Seunghyun ; Lee, Jeonghwan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 56 (2009-03-01), Heft 3, S. 393-398
    Online academicJournal
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    A Tileable CMOS X-Ray Line Detector Using Time-Delay-Integration With Pseudomultisampling for Large-Sized Dental X-Ray Imaging Systems.
    Jo, Yun-Rae ; Hong, Seong-Kwan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017), Heft 1, S. 211-216
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    A Low-Noise High-Dynamic-Range 17-b 1.3-Megapixel 30-fps CMOS Image Sensor With Column-Parallel Two-Stage Folding-Integration/Cyclic ADC.
    Seo, Min-Woong ; Sawamoto, Takehide ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 59 (2012-12-01), Heft 12, S. 3396-3400
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    A Dual-Exposure Single-Capture Wide Dynamic Range CMOS Image Sensor With Columnwise Highly/Lowly Illuminated Pixel Detection.
    Yeh, Shang-Fu ; Hsieh, Chih-Cheng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 59 (2012-07-01), Heft 7, S. 1948-1955
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    A High-Speed Low-Noise CMOS Image Sensor With 13-b Column-Parallel Single-Ended Cyclic ADCs.
    Park, Jong-Ho ; Aoyama, Satoshi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 56 (2009-11-01), Heft 11, S. 2414-2422
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    A High-Speed Low-Noise CMOS Image Sensor With 13-b Column-Parallel Single-Ended Cyclic ADCs.
    Park, Jong-Ho ; Aoyama, Satoshi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 56 (2009-11-01), Heft 11, S. 2414-2422
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    A High-Speed Low-Noise CMOS Image Sensor With 13-b Column-Parallel Single-Ended Cyclic ADCs
    Aoyama, Satoshi ; Watanabe, Takashi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 56 (2009-09-22), Heft 11, S. 2414-2422
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