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    Achieving Wide Operating Voltage Windows in Non-Carrier Injection Micro-LEDs for Enhancing Luminance Robustness.
    Chen, Peiqi ; Wang, Kun ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022), Heft 1, S. 212-215
    Online academicJournal
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    Low-Power Crossbar Switch With Two-Varistor Selected Complementary Atom Switch (2V-1CAS; Via-Switch) for Nonvolatile FPGA.
    Banno, Naoki ; Okamoto, Koichiro ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-08-01), Heft 8, S. 3331-3336
    Online academicJournal
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    Set/Reset Switching Model of Cu Atom Switch Based on Electrolysis.
    Tada, Munehiro ; Sakamoto, Toshitsugu
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-04-01), Heft 4, S. 1812-1817
    Online academicJournal
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    ON-state Reliability of Cu Atom Switch Under Current–Temperature Stress.
    Tada, Munehiro ; Okamoto, Koichiro ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 62 (2015-09-01), Heft 9, S. 2992-2997
    Online academicJournal
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    Design of Novel High-Q-Factor Multipath Stacked On-Chip Spiral Inductors.
    Xu, Xiangming ; Li, Pingliang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 59 (2012-08-01), Heft 8, S. 2011-2018
    Online academicJournal
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    Polymer Solid-Electrolyte Switch Embedded on CMOS for Nonvolatile Crossbar Switch.
    Tada, Munehiro ; Okamoto, Koichiro ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 58 (2011-12-01), Heft 12, S. 4398-4406
    Online academicJournal
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    Channel Length and Threshold Voltage Dependence of Transistor Mismatch in a 32-nm HKMG Technology.
    Hook, Terence B. ; Johnson, Jeffrey B. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 57 (2010-10-01), Heft 10, S. 2440-2447
    Online academicJournal
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    Nonvolatile Crossbar Switch Using TiO<subscript>x</subscript>/TaSiO<subscript>y</subscript> Solid Electrolyte.
    Tada, Munehiro ; Sakamoto, Toshitsugu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 57 (2010-08-01), Heft 8, S. 1987-1995
    Online academicJournal
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    Lateral Profile of Trapped Charges in Split-Gate SONOS Memory.
    Tsuji, Yukihide ; Terai, Masayuki ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 57 (2010-02-01), Heft 2, S. 466-473
    Online academicJournal
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    Application of Exponential Tail-State Distribution Model to the Above-Threshold Characteristics of Zn-Based Oxide Thin-Film Transistors.
    Takechi, Kazushige ; Nakata, Mitsuru ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 56 (2009-09-01), Heft 9, S. 2165-2168
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    Dual-Gate Characteristics of Amorphous InGaZnO<subscript>4</subscript> Thin-Film Transistors as Compared to Those of Hydrogenated Amorphous Silicon Thin-Film Transistors.
    Takechi, Kazushige ; Nakata, Mitsuru ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 56 (2009-09-01), Heft 9, S. 2027-2033
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    Performance Modeling of Low-k/Cu Interconnects for 32-nm-Node and Beyond.
    Tada, Munehiro ; Inoue, Naoya ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 56 (2009-09-01), Heft 9, S. 1852-1861
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    Robust Low Oxygen Content Cu Alloy for Scaled-Down ULSI Interconnects Based on Metallurgical Thermodynamic Principles.
    Hayashi, Yoshihiro ; Abe, Mari ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 56 (2009-08-01), Heft 8, S. 1579-1587
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