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    Modeling the Performance of Mosaic Uncooled Passive IR Sensors in CMOS–SOI Technology
    Bar-Lev, Sharon ; Zviagintsev, Alex ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-10-01), S. 4571-4576
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    High-Gain Hybrid CMOS Inverters by Coupling Cosputtered ZnSiSnO and Solution-Processed Semiconducting SWCNT
    Zhang, Jianhua ; Zhong, De-Yao ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-07-01), S. 2838-2843
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    Ultracompact ESD Protection With BIMOS-Merged Dual Back-to-Back SCR in Hybrid Bulk 28-nm FD-SOI Advanced CMOS Technology
    Marin-Cudraz, D. ; Legrand, Charles-Alexandre ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-10-01), S. 3991-3997
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    Investigation of Unexpected Latchup Path Between HV-LDMOS and LV-CMOS in a 0.25- $\mu \text{m}$ 60-V/5-V BCD Technology
    Dai, Chia-Tsen ; Ker, Ming-Dou
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-08-01), S. 3519-3523
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    Extraction of Drain Current Thermal Noise in a 28 nm High- <tex-math notation='LaTeX'>${k}$ </tex-math> /Metal Gate RF CMOS Technology
    Qingqing, Liang ; Zhang, Huaiyuan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-06-01), S. 2393-2399
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    Performance Potential of Ge CMOS Technology From a Material-Device-Circuit Perspective
    Alam, Muhammad A. ; Wu, Heng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-05-01), S. 1679-1684
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    Decoupling Structures for Millimeter Wave Integrated Circuits in Digital CMOS Processes
    Wu, Kefei ; Muralidharan, Sriram ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-02-01), S. 788-792
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    Flexible Lightweight CMOS-Enabled Multisensory Platform for Plant Microclimate Monitoring
    Shaikh, Sohail F. ; Qaiser, Nadeem ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, 2018, S. 1-7
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    A 1.1- $\mu \text{m}$ 33-Mpixel 240-fps 3-D-Stacked CMOS Image Sensor With Three-Stage Cyclic-Cyclic-SAR Analog-to-Digital Converters
    Yasue, Toshio ; Kitamura, Kazuya ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-12-01), S. 4992-5000
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    CMOS-Compatible Contacts to n-InP
    Sagnes, Isabelle ; Jeremy Da Fonseca ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-11-01), S. 4408-4414
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    Design and Modeling of Blue-Enhanced and Bandwidth-Extended PN Photodiode in Standard CMOS Technology
    Hitchcock, Collin ; Zhang, Yiwen ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-07-01), S. 2859-2866
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    Integrating Poly-Silicon and InGaZnO Thin-Film Transistors for CMOS Inverters
    Yuanjun, Hsu ; Wong, Man ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-09-01), S. 3668-3671
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    CMOS Compatible Electrostatically Formed Nanowire Transistor for Efficient Sensing of Temperature
    Coen, Tom ; Rosenwaks, Yossi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-09-01), S. 3836-3840
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    Freeform Compliant CMOS Electronic Systems for Internet of Everything Applications
    Nassar, Joanna M. ; Muhammad Mustafa Hussain ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-05-01), S. 1894-1905
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    Modeling of CMOS Devices and Circuits on Flexible Ultrathin Chips
    Dahiya, Ravinder ; Gupta, Shoubhik ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-05-01), S. 2038-2046
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    High Temperature Data Converters in Silicon Carbide CMOS
    Roy, Sajib ; Kuhns, Nathan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-04-01), S. 1426-1432
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    Comparison of Logic Performance of CMOS Circuits Implemented With Junctionless and Inversion-Mode FinFETs
    Guin, Shilpi ; Sil, Monali ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-03-01), S. 953-959
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    1-kb FinFET Dielectric Resistive Random Access Memory Array in $1\times $ nm CMOS Logic Technology for Embedded Nonvolatile Memory Applications
    Chrong Jung Lin ; Chih, Yue-Der ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-11-01), S. 4273-4278
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    Device and Circuit Performance of the Future Hybrid III–V and Ge-Based CMOS Technology
    Benbakhti, Brahim ; Soltani, Ali ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-10-01), S. 3893-3899
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    An Area-Efficient and Low-Power 12-b SAR/Single-Slope ADC Without Calibration Method for CMOS Image Sensors
    Hong, Seong-Kwan ; Kim, Min-Kyu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-09-01), S. 3599-3604
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