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    CMOS-Compatible Contacts to n-InP
    Sagnes, Isabelle ; Jeremy Da Fonseca ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-11-01), S. 4408-4414
    Online unknown
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    High Temperature Data Converters in Silicon Carbide CMOS
    Roy, Sajib ; Kuhns, Nathan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-04-01), S. 1426-1432
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    CMOS-SOI-MEMS Thermal Antenna and Sensor for Uncooled THz Imaging
    Blank, Tanya ; Sharon Bar-Lev Shefi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-03-01), S. 1260-1265
    Online unknown
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    High-Temperature Voltage and Current References in Silicon Carbide CMOS
    Francis, A. M. ; Holmes, Jim ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-06-01), S. 2455-2461
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    High-Performance Plasmonic THz Detector Based on Asymmetric FET With Vertically Integrated Antenna in CMOS Technology
    Park, Kibog ; Min Woo Ryu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-04-01), S. 1742-1748
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    3-D-Stacked 16-Mpixel Global Shutter CMOS Image Sensor Using Reliable In-Pixel Four Million Microbump Interconnections With 7.6- <tex-math notation='LaTeX'>$\mu \text{m}$ </tex-math> Pitch
    Suzuki, Shunsuke ; Kondo, Toru ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), S. 128-137
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    RF Characterization of Schottky Diodes in 65-nm CMOS
    Tripodi, Lorenzo ; Cumana, J ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 57 (2010-05-01), S. 1063-1068
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    A High-Voltage Single-Emitter Reduced-Surface-Field Horizontal Current Bipolar Transistor for BiCMOS Integration
    Suligoj, Tomislav ; Zilak, Josip ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-07-01), S. 3019-3022
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    Demonstration of a Highly Tunable Hybrid nMOS-Magnetic-Tunnel-Junction Ring Oscillator
    Kang, Seung H. ; Choi, Richard ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-04-01), S. 1768-1773
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    Stabilizing Schemes for the Minority Failure Bits in Ta2O5-Based ReRAM Macro
    Hase, Takashi ; Sunamura, Hiroshi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-02-01), S. 419-426
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    OFF-State Leakage and Performance Variations Associated With Germanium Preamorphization Implant in Silicon–Germanium Channel pFET
    Tiwari, Vishal A. ; Divakaruni, Rama ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-09-01), S. 3654-3661
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    The Fabrication and MOSFET-Only Circuit Implementation of Semiconductor Memristor
    Yesil, Abdullah ; Gul, Fatih ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-04-01), S. 1625-1632
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    High-R Poly Resistance Deviation Improvement From Suppressions of Back-End Mechanical Stresses
    Su, Chauchin ; Ho, Yingchieh ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-10-01), S. 4233-4241
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    DC-30 GHz DPDT Switch Matrix Design in High Resistivity Trap-Rich SOI
    Ma, Kaixue ; Shyam, Parthasarathy ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-09-01), S. 3548-3554
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Au-Free AlGaN/GaN MIS-HEMTs With Embedded Current Sensing Structure for Power Switching Applications
    Zhao, Cezhou ; Liang, Yung C. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-08-01), S. 3515-3518
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    Ultralow Capacitance Transient Voltage Suppressor Design
    Gong, Jeng ; Huang, Chih-Fang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, 2016, S. 1-5
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