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    Battery-Less Electronic Layer Detectors Array (ELDA) for In-Tool DUV Detection by FinFET CMOS Technology
    Chrong Jung Lin ; Lin, Wei-Hwa ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-10-01), S. 4972-4976
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    A CMOS Photodetector for Direct Color Imaging
    Audet, Yves ; Bendali, Abdelhalim ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-03-01), S. 1107-1114
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    Spectral Noise Analysis of a CMOS Imager at Low Temperature for Logarithmic Mode
    Davies William de Lima Monteiro ; Carlos Augusto de Moraes Cruz ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-06-01), S. 2662-2668
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    A Two-Tap Indirect Time-of-Flight CMOS Image Sensor With Pump Gate Modulator for Low-Power Applications
    Lai, Junhua ; Xue, Zhongming ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-06-01), S. 2858-2864
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    CMOS Single-Photon Avalanche Diode Pixel Design for a Gun Muzzle Flash Detection Camera
    Katz, A. ; Nemirovsky, Yael ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-10-01), S. 4407-4412
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    A Dual NIR-Band Lock-In Pixel CMOS Image Sensor With Device Optimizations for Remote Physiological Monitoring
    Yasutomi, Keita ; Jaydeep Kumar Dutta ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-04-01), S. 1688-1693
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    Influence of Pixel Design on Charge Transfer Performances in CMOS Image Sensors
    Estribeau, Magali ; Magnan, Pierre ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-03-01), S. 1048-1055
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    Dark Current Sharing and Cancellation Mechanisms in CMOS Image Sensors Analyzed by TCAD Simulations
    Rizzolo, Serena ; Magnan, Pierre ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-12-01), S. 4985-4991
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    Pinned Photodiode CMOS Image Sensor TCAD Simulation: In-Depth Analysis of in-Pixel Pinning Voltage Measurement for a Diagnostic Tool
    Magnan, Pierre ; Nallet, Franck ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-02-01), S. 455-462
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    An Implantable CMOS Image Sensor With Self-Reset Pixels for Functional Brain Imaging
    Sasagawa, Kiyotaka ; Sunaga, Yoshinori ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), S. 215-222
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    Pixel-Parallel 3-D Integrated CMOS Image Sensors With Pulse Frequency Modulation A/D Converters Developed by Direct Bonding of SOI Layers
    Higurashi, Eiji ; Hagiwara, Kei ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 62 (2015-11-01), S. 3530-3535
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    Voltage Mode FPN Calibration in the Logarithmic CMOS Imager
    Ewerton Gomes de Oliveira ; Luciano Lourenco Furtado da Silva ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 62 (2015-08-01), S. 2528-2534
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    Enhanced Near-Infrared Response CMOS Image Sensors Using High-Resistivity Substrate: Photodiodes Design Impact on Performances
    Michel Breart de Boisanger ; Lincelles, Jean-Baptiste ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), S. 120-127
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    A Fast-Gated CMOS Image Sensor With a Vertical Overflow Drain Shutter Mechanism
    Cohen, David ; Fish, Alexander ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), S. 138-144
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    A Low-Noise and Area-Efficient PWM- <tex-math notation='LaTeX'>$\Delta \Sigma $ </tex-math> ADC Using a Single-Slope Quantizer for CMOS Image Sensors
    Hong, Seong-Kwan ; Kwon, Oh-Kyong ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), S. 168-173
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    Afterpulsing Characteristics of Free-Running and Time-Gated Single-Photon Avalanche Diodes in 130-nm CMOS
    M. Jamal Deen ; Palubiak, Darek ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 62 (2015-11-01), S. 3727-3733
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    CMOS Global Shutter Charge Storage Pixels With Improved Performance
    Chen, Frank Y. J. ; Komori, Hirofumi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), S. 106-112
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    Fabrication and Analysis of Vertical Thin Poly-Si Channel Transfer Gate Pixels for a 3-D CMOS Image Sensor
    Yoo, Kyung-Dong ; Song, Il-Ho ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-07-01), S. 2917-2924
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    A Monolithic CMOS Image Sensor With Wire-Grid Polarizer Filter Mosaic in the Focal Plane
    Jan Van der Spiegel ; Zhang, Milin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 61 (2014-03-01), S. 855-862
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    Characterization of Backside-Illuminated CMOS APS Prototypes for the Extreme Ultraviolet Imager On-Board Solar Orbiter
    BenMoussa, Ali ; Meynants, Guy ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 60 (2013-05-01), S. 1701-1708
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