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    Materials to Systems Co-Optimization Platform for Rapid Technology Development Targeting Future Generation CMOS Nodes
    Pal, Ashish ; Reddy, Vinod ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-11-01), S. 5358-5363
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    3-D CMOS Chip Stacking for Security ICs Featuring Backside Buried Metal Power Delivery Networks With Distributed Capacitance
    Miura, Noriyuki ; Okidono, Takaaki ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-04-01), S. 2077-2082
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    Analysis of Charge Transfer Potential Barrier in Pinned Photodiode of CMOS Image Sensors
    Sarkar, Mukul ; Khan, Uzma
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-06-01), S. 2770-2777
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    Improved Air Spacer for Highly Scaled CMOS Technology
    Yamashita, Tenko ; Greene, Andrew M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-12-01), S. 5355-5361
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    A Novel Empirical Model for CMOS Schottky Diodes up to 67 GHz
    Zhang, Wenyuan ; Wang, Yan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-11-01), S. 4660-4665
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    Dynamic Capacitance Model of a Pinned Photodiode in CMOS Image Sensors
    Khan, Uzma ; Sarkar, Mukul
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-07-01), S. 2892-2898
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    An Analytical Model for the Effective Drive Current in CMOS Circuits
    Pidin, Sergey
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-02-01), S. 855-860
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    An Over 120 dB Single Exposure Wide Dynamic Range CMOS Image Sensor With Two-Stage Lateral Overflow Integration Capacitor
    Kuroda, Rihito ; Fujihara, Yasuyuki ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021), S. 152-157
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    Comparison of Logic Performance of CMOS Circuits Implemented With Junctionless and Inversion-Mode FinFETs
    Guin, Shilpi ; Sil, Monali ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-03-01), S. 953-959
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    Device and Circuit Performance of the Future Hybrid III–V and Ge-Based CMOS Technology
    Benbakhti, Brahim ; Soltani, Ali ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-10-01), S. 3893-3899
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    RF/High-Speed I/O ESD Protection: Co-optimizing Strategy Between BEOL Capacitance and HBM Immunity in Advanced CMOS Process
    Groeseneken, Guido ; Linten, Dimitri ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-07-01), S. 2752-2759
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    Chord-Fractal Capacitor in CMOS Technology
    Chien, Chun-Tsai ; Hsu, Heng-Ming
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-12-01), S. 4642-4646
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    Optimization of CMOS-ISFET-Based Biomolecular Sensing: Analysis and Demonstration in DNA Detection
    Xu, Guangyu ; Abbott, Jeffrey ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, 2016, S. 1-8
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    Self-Heat Characterizations and Modeling of Multifinger nMOSFETs for RF-CMOS Applications
    Kobayashi, Haruo ; Aoki, Hitoshi
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 62 (2015-09-01), S. 2704-2709
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    A Charge Transfer Model for CMOS Image Sensors
    Yao, Suying ; Theuwissen, Albert J. P. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), S. 32-41
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A Potential-Based Characterization of the Transfer Gate in CMOS Image Sensors
    Theuwissen, Albert J. P. ; Xu, Yang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), S. 42-48
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    On-Chip HBM and HMM ESD Protection Design for RF Applications in 40-nm CMOS Process
    Lin, Chun-Yu ; Chang, Rong-Kun ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-12-01), S. 5267-5274
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    Vertical GAAFETs for the Ultimate CMOS Scaling
    Thean, Aaron ; Eneman, Geert ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 62 (2015-05-01), S. 1433-1439
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    Vertical Nanowire CMOS Parasitic Modeling and its Performance Analysis
    Kaushal, Gaurav ; Sanjeev Kumar Manhas ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 60 (2013-09-01), S. 2943-2950
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    THRU-Based Cascade De-embedding Technique for On-Wafer Characterization of RF CMOS Devices
    Kiat Seng Yeo ; Kok Wai Chew ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 60 (2013-09-01), S. 2892-2899
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