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    Toward Monolithically Integrated Hybrid CMOS-NEM Circuits
    Horace-Herron, Kelsey ; Usai, Giulia ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-12-01), S. 6430-6436
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    Demonstration of CMOS-Compatible Multi-Level Graphene Interconnects With Metal Vias
    Banerjee, Kaustav ; Agashiwala, Kunjesh ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-04-01), S. 2083-2091
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    3-D CMOS Chip Stacking for Security ICs Featuring Backside Buried Metal Power Delivery Networks With Distributed Capacitance
    Miura, Noriyuki ; Okidono, Takaaki ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-04-01), S. 2077-2082
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    Empirical Large-Signal Modeling of mm-Wave FDSOI CMOS Based on Angelov Model
    Rudolph, Matthias ; Dang Khoa Huynh ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-04-01), S. 1446-1453
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    Stand-by Power Reduction Using Experimentally Demonstrated Nano-Electromechanical Switch in CMOS Technologies
    Goel, Mayank ; Saha, Sumit ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-02-01), S. 746-752
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    Prospects for Wide Bandgap and Ultrawide Bandgap CMOS Devices
    Han Wui Then ; Hickman, Austin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-10-01), S. 4010-4020
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    Thermal Stress-Aware CMOS–SRAM Partitioning in Sequential 3-D Technology
    Spessot, Alessio ; Eugenio Dentoni Litta ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-11-01), S. 4631-4635
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    $\pi$ -SCR Device for Broadband ESD Protection in Low-Voltage CMOS Technology
    Lai, Yu-Hsuan ; Lin, Chun-Yu
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-09-01), S. 4107-4110
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    A Low-Power CMOS Current Reference for Piezoelectric Energy Harvesters
    Karlsen, Haakon ; Li, Ping ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-08-01), S. 3403-3410
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    Carbon Nanotube-Based CMOS SRAM: 1 kbit 6T SRAM Arrays and 10T SRAM Cells
    Shulaker, Max M. ; Lau, Christian ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-12-01), S. 5375-5380
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    CMOS-Like Logic Circuits With Unipolar Thin-Film Transistors on Flexible Substrate
    Wong, William S. ; Li, Qing ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-02-01), S. 512-517
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    Compact ESD Protection Design for CMOS Low-Noise Amplifier
    Huang, Guo-Lun ; Lin, Meng-Ting ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020), S. 33-39
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    Optimization Design on Active Guard Ring to Improve Latch-Up Immunity of CMOS Integrated Circuits
    Ker, Ming-Dou ; Chen, Chun-Cheng
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-04-01), S. 1648-1655
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    A New Pellistor-Like Gas Sensor Based on Micromachined CMOS Transistor
    Svetlitza, Alexander ; Bar-Lev, Sharon ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-12-01), S. 5494-5498
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    Modeling the Performance of Nano Machined CMOS Transistors for Uncooled IR Sensing
    Blank, Tania ; Nemirovsky, Yael ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-11-01), S. 4657-4663
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Ultracompact ESD Protection With BIMOS-Merged Dual Back-to-Back SCR in Hybrid Bulk 28-nm FD-SOI Advanced CMOS Technology
    Marin-Cudraz, D. ; Legrand, Charles-Alexandre ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-10-01), S. 3991-3997
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Investigation of Unexpected Latchup Path Between HV-LDMOS and LV-CMOS in a 0.25- $\mu \text{m}$ 60-V/5-V BCD Technology
    Dai, Chia-Tsen ; Ker, Ming-Dou
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-08-01), S. 3519-3523
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    CMOS Compatible Electrostatically Formed Nanowire Transistor for Efficient Sensing of Temperature
    Coen, Tom ; Rosenwaks, Yossi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-09-01), S. 3836-3840
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    Noise Margin, Delay, and Power Model for Pseudo-CMOS TFT Logic Circuits
    Zhao, Jiaqing ; Liu, Yongpan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-06-01), S. 2635-2642
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    Comparison of Logic Performance of CMOS Circuits Implemented With Junctionless and Inversion-Mode FinFETs
    Guin, Shilpi ; Sil, Monali ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-03-01), S. 953-959
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