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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-06-01), Heft 6, S. 2851-2857Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-04-01), Heft 4, S. 2056-2063Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-04-01), Heft 4, S. 1530-1536Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-08-01), Heft 8, S. 4175-4182Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-07-01), Heft 7, S. 2917-2924Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-08-01), Heft 8, S. 3870-3875Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-11-01), Heft 11, S. 4503-4509Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-12-01), Heft 12, S. 6065-6068Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-10-01), Heft 10, S. 4010-4020Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-02-01), Heft 2, S. 832-837Online academicJournalZugriff: