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    A 3-D Device-Level Investigation of a Lag-Free PPD Pixel With a Capacitive Deep Trench Isolation as Shared Vertical Transfer Gate
    Mohammad Azim Karami ; Alaibakhsh, Hamzeh
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-10-01), S. 4381-4386
    Online unknown
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    OFF-State Leakage and Performance Variations Associated With Germanium Preamorphization Implant in Silicon–Germanium Channel pFET
    Tiwari, Vishal A. ; Divakaruni, Rama ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-09-01), S. 3654-3661
    Online unknown
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    Low-Frequency Noise Correlation in Current-Mode Magnetic Transducers: The CHOPFET Case
    Osberger, Laurent ; Frick, Vincent
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-08-01), S. 3401-3407
    Online unknown
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    The Fabrication and MOSFET-Only Circuit Implementation of Semiconductor Memristor
    Yesil, Abdullah ; Gul, Fatih ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-04-01), S. 1625-1632
    Online unknown
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    An HDR Pixel With Over 60-dB Dynamic Range Enhancement Using In-Pixel Parametric Amplification
    Priyadarshini, Neha ; Sarkar, Mukul ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-02-01), S. 555-563
    Online unknown
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    Au-Free AlGaN/GaN MIS-HEMTs With Embedded Current Sensing Structure for Power Switching Applications
    Zhao, Cezhou ; Liang, Yung C. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-08-01), S. 3515-3518
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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