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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-06-01), Heft 6, S. 2858-2864Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-06-01), Heft 6, S. 2806-2814Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-12-01), S. 6430-6436Online unknownZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-04-01), S. 1764-1771Online unknownZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-12-01), Heft 12, S. 6430-6436Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-05-01), S. 2167-2172Online unknownZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-05-01), S. 2152-2159Online unknownZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-09-01), S. 3889-3893Online unknownZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-08-01), S. 3403-3410Online unknownZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-02-01), S. 524-528Online unknownZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-12-01), S. 5375-5380Online unknownZugriff: