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    A Low-Noise and Area-Efficient PWM- $\Delta \Sigma $ ADC Using a Single-Slope Quantizer for CMOS Image Sensors.
    Jo, Yun-Rae ; Hong, Seong-Kwan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), Heft 1, S. 168-173
    Online academicJournal
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    Performance of CMOS With Si pMOS and Asymmetric InP/InGaAs nMOS for Analog Circuit Applications.
    Tewari, Suchismita ; Biswas, Abhijit ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 62 (2015-05-01), Heft 5, S. 1655-1658
    Online academicJournal
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    Part II: A Fully Integrated RF PA in 28-nm CMOS With Device Design for Optimized Performance and ESD Robustness.
    Gupta, Ankur ; Shrivastava, Mayank ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 62 (2015-10-01), Heft 10, S. 3176-3183
    Online academicJournal
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    Volltext
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    A Gain-Adaptive Column Amplifier for Wide-Dynamic-Range CMOS Image Sensors.
    Le-Thai, Ha ; Xhakoni, Adi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 60 (2013-10-01), Heft 10, S. 3601-3604
    Online academicJournal
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    A Low-Noise High-Dynamic-Range 17-b 1.3-Megapixel 30-fps CMOS Image Sensor With Column-Parallel Two-Stage Folding-Integration/Cyclic ADC.
    Seo, Min-Woong ; Sawamoto, Takehide ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 59 (2012-12-01), Heft 12, S. 3396-3400
    Online academicJournal
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    Three-Side Buttable Integrated Ultrasound Chip With a 16\,\times\,16 Reconfigurable Transceiver and Capacitive Micromachined Ultrasonic Transducer Array for 3-D Ultrasound Imaging Systems.
    Jung, Sung-Jin ; Song, Jong-Keun ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 60 (2013-10-01), Heft 10, S. 3562-3569
    Online academicJournal
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    Operating Voltage Constraints in 45-nm SOI nMOSFETs and Cascode Cores.
    Arora, Rajan ; Cressler, John D.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 60 (2013), Heft 1, S. 132-139
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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