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  1. Chang, Shu-Wei ; Lu, Tsung-Han ; et al.
    In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 69 (2022), Heft 4, S. 2101-2107
    Online serialPeriodical
  2. Lu, Cheng-Hsien ; Jhu, Shu-Yan ; et al.
    In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 66 (2019), Heft 7, S. 3073-3079
    Online serialPeriodical
  3. Chang, Shu-Wei ; Lu, Tsung-Han ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-04-01), S. 2101-2107
    Online unknown
  4. Chang, Geng-Wei ; Chang, Ting-Chang ; et al.
    In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 61 (2014), Heft 6, S. 2119-2124
    Online serialPeriodical
  5. Jhu, Shu-Yan ; Chen, Kuan-Neng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-07-01), S. 3073-3079
    Online unknown
  6. Tai, Ya-Hsiang ; Chang, Kuan-Chang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 61 (2014-06-01), S. 2119-2124
    Online unknown
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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