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In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 70 (2023), Heft 6, S. 3005-3010Online serialPeriodicalZugriff:
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In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 70 (2023), Heft 6, S. 3043-3050Online serialPeriodicalZugriff:
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In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 70 (2023), Heft 5, S. 2465-2472Online serialPeriodicalZugriff:
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