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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-08-01), Heft 8, S. 3686-3689Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-09-01), Heft 9, S. 4418-4424Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024), Heft 3, S. 2177-2183Online serialPeriodicalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-02-01), Heft 2, S. 478-484Online serialPeriodicalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023), Heft 7, S. 3943-3950Online serialPeriodicalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 61 (2014-05-01), Heft 5, S. 1553-1560Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 60 (2013-09-01), Heft 9, S. 2808-2814Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 58 (2011-12-01), Heft 12, S. 4333-4343Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 61 (2014-05-01), S. 1553-1560Online unknownZugriff:
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