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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-04-01), Heft 4, S. 1845-1851Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 53 (2006-07-01), Heft 7, S. 1608-1614Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 54 (2007-11-01), Heft 11, S. 3064-3070Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 55 (2008-06-01), Heft 6, S. 1366-1372Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 55 (2008-06-01), Heft 6, S. 1366-1372Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 47 (2000-02-01), Heft 2, S. 473-481Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 54 (2007-11-01), S. 3064-3070Online unknownZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 53 (2006-07-01), S. 1608-1614Online unknownZugriff:
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In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 47 (2000), S. 473-481Online unknownZugriff: