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    A MEMS Thermopile Pirani Sensor Integrated With Composite Nanoforests for Vacuum Monitoring in Semiconductor Equipment
    Xu, S. ; Shi, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-10-01), Heft 10, S. 5300-5305
    Online academicJournal
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    A Method for Series-Resistance-Immune Extraction of Low-Frequency Noise Parameters in Nanoscale MOSFETs
    Tataridou, A. ; Ghibaudo, G. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-11-01), Heft 11, S. 4568-4572
    Online academicJournal
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    Volltext
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    Low-Frequency Noise Characteristics of GaN Nanowire Gate-All-Around Transistors With/Without 2-DEG Channel
    Im, K. ; Siva Pratap Reddy, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-03-01), Heft 3, S. 1243-1248
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Impact of Subthreshold Carrier Statistics on the Low-Frequency Noise in MOSFETs
    Ajaykumar, A. ; Zhou, X. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-04-01), Heft 4, S. 1702-1707
    Online academicJournal
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    Analysis of Low Frequency Noise in Schottky Junction Trigate Silicon Nanowire FET on Bonded SOI Substrate
    Yu, Y. ; Zhang, Z. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-08-01), Heft 8, S. 4667-4673
    Online academicJournal
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    Temperature-Dependent Low-Frequency Noise Analysis of ZnO Nanowire Field-Effect Transistors
    Xue, H. ; Shao, Y. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-07-01), Heft 7, S. 3532-3536
    Online academicJournal
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    Self-Organized Al Nanotip Electrodes for Achieving Ultralow-Power and Error-Free Memory
    Duran Retamal, J.R. ; Ho, C. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-02-01), Heft 2, S. 938-943
    Online academicJournal
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    Junctionless Versus Inversion-Mode Gate-All-Around Nanowire Transistors From a Low-Frequency Noise Perspective
    Simoen, E. ; Veloso, A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-04-01), Heft 4, S. 1487-1492
    Online academicJournal
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    Charge Injection From Carbon Nanofibers Into Hexane Under Ambient Conditions
    Agiral, A. ; Eral, H. B. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 58 (2011-10-01), Heft 10, S. 3514-3518
    Online academicJournal
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    A Microionizer for Portable Mass Spectrometers Using Double-Gated Isolated Vertically Aligned Carbon Nanofiber Arrays
    Chen, L. Y. ; Velasquez-Garcia, L. F. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 58 (2011-07-01), Heft 7, S. 2149-2158
    Online academicJournal
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    Drain-Current Flicker Noise Modeling in nMOSFETs From a 14-nm FDSOI Technology
    Ioannidis, E.G. ; Theodorou, C.G. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 62 (2015-05-01), Heft 5, S. 1574-1574
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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