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    Bulk micromachined electrostatic RMS-to-DC converter
    de Graaf, Ger ; Bartek, Marian ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement, Jg. 50 (2001-12-01), Heft 6, S. 1508-1512
    Online academicJournal
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    The relationship between microsystems technology and metrology
    Wolffenbuttel, Reinoud F. ; Van Mullem, Cees J.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement, Jg. 50 (2001-12-01), Heft 6, S. 1469-1473
    Online academicJournal
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    CCE 92-05 intercomparison of AC-DC voltage transfer standards at high frequencies (1-50 MHz)
    Mullem, Cees J. van
    In: IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement, Jg. 48 (1999-04-01), Heft 2, S. 154-157
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Evaluation of the calculable high frequency AC-DC standard
    Mullem, Cees J. van ; Janssen, Willemien J.G.D. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement, Jg. v46 (1997-04-01), Heft n2, S. 361-364
    Online academicJournal
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Microtechnology and microsystems in measurement applications
    Wolffenbuttel, Reinoud F. ; Van Mullen, Cees J.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement, Jg. 4 (2001-09-01), Heft 3, S. 21-23
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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