Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
62 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Verlag

Sprache

Geographischer Bezug

62 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Evaluation of the uncertainties in the measurement of distorted power by means of the IEN sampling system
    Pogliano, Umberto
    In: IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement, Jg. 55 (2006-04-01), Heft 2, S. 620-624
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    The IEN CCC bridge to scale the quantized Hall resistance to 1-ohm standards
    Boella, Giorgio ; Mihai, Iulian ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement, Jg. 54 (2005-04-01), Heft 2, S. 588-591
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Extension of the IEN traceability for AC voltages below 200 mV
    Pogliano, Umberto ; Bosco, Gian Carlo ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement, Jg. 52 (2003-04-01), Heft 2, S. 375-379
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Systematic shift uncertainty evaluation of IEN CSF1 primary frequenct standard
    Levi, Filippo ; Lorini, Luca ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement, Jg. 52 (2003-04-01), Heft 2, S. 267-271
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Tests on the IEN electrometric AC-DC transfer standard
    In: IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement, Jg. 51 (2002-02-01), Heft 1, S. 78-81
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Traceability of the 10-k ohm standard at IEN
    Boella, Giorgio ; Capra, Pier Paolo ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement, Jg. 50 (2001-04-01), Heft 21, S. 245-248
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    The electrical DC resistance scale from 100 k[ohms] to 1 T[ohm] at IEN
    Galliana, Flavio ; Boella, Giorgio
    In: IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement, Jg. 49 (2000-10-01), Heft 5, S. 959-963
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Precision measurement of AC voltage below 20 Hz at IEN
    Pogliano, Umberto
    In: IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement, Jg. v46 (1997-04-01), Heft n2, S. 369-372
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Determination of the frequency dependence of the AC-DC voltage standard at IEN
    Pogliano, Umberto ; Bosco, Gian Carlo
    In: IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement, Jg. v46 (1997-04-01), Heft n2, S. 373-376
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    The Electrical DC Resistance Scale from 100 kilo ohms to 1 tera ohm at IEN.
    Galliana, Flavio ; Boella, Giorgio
    In: IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement, Jg. 49 (2000-10-01), Heft 5, S. 959-963
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Change of the working temperature of the IEN primary group of standard resistors
    Boella, Giorgio ; Reedtz, Gian ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement, Jg. v46 (1997-04-01), Heft n2, S. 311-313
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Tests on the IEN Electrometric AC-DC Transfer Standard.
    Pogliano, Umberto ; Bosco, Gian Carlo
    In: IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement, Jg. 51 (2002-02-01), Heft 1, S. 78-81
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Traceability of the 10-kOmega Standard at IEN.
    Boella, Giorgio ; Capra, Pier Paolo ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement, Jg. 50 (2001-04-01), Heft 2, S. 245-248
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    The Reproduction of the As-Maintained Unit of Voltage at IEN by Means of 2e-h
    Andreone, D. ; Arri, E. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement, Jg. 32 (1983-03-01), Heft n1, S. 272
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    The IEN CCC Bridge to Scale the Quantized Hall Resistance to 1-Ω Standards.
    Boella, Giorgio ; Mihai, Iulian ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement, Jg. 54 (2005-04-01), Heft 2, S. 588-591
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    The representation of the ohm using the quantum hall effect at IEN.
    Boells, G. ; Reedtz, G.M.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement, Jg. 40 (1991-01-02), Heft 2, S. 245-248
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Stability Evaluation of High-Precision Multifunction Instruments for Traceability Transfer.
    Cassiago, Cristina ; Pogliano, Umberto
    In: IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement, Jg. 49 (2000-12-01), Heft 6, S. 1206-1210
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    New Calibration Method for Coaxial Microcalorimeters.
    Brunetti, Luciano ; Vremera, Emil T.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement, Jg. 54 (2005-04-01), Heft 2, S. 684-687
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    The lEN CCC Bridge to Scale the Quantized Hall Resistance to 1-ω Standards.
    Boella, Giorgio ; Mihai, Lulian ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement, Jg. 54 (2005-04-01), Heft 2, S. 588-591
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Guarded Vector Voltmeter for AC Ratio Standard Calibration.
    Callegaro, Luca
    In: IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement, Jg. 51 (2002-08-01), Heft 4, S. 632-635
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -