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    Analysis and Measurement of Crosstalk Effects on Mixed-Signal CMOS ICs With Different Mounting Technologies
    Boselli, G. ; Torelli, Guido ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 59 (2010-08-01), S. 2015-2025
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    Standby Leakage Power Reduction Technique for Nanoscale CMOS VLSI Systems
    Jeon, HeungJun ; Kim, Yong-Bin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 59 (2010-05-01), S. 1127-1133
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    Low-Power 4-b 2.5-GSPS Pipelined Flash Analog-to-Digital Converter in 130-nm CMOS
    Wang, Mingzhen ; Chien-In Henry Chen ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 56 (2007-06-01), S. 1064-1073
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    CMOS adjustable Schmitt triggers
    Wang, Z.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 40 (1991-06-01), S. 601-605
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    Fault detection in CMOS circuits by consumption measurement
    Rainard, J. L. ; Jacomino, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 38 (1989-06-01), S. 773-778
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    Experimental Analysis of the Coupling Mechanisms Between a 4 GHz PPA and a 5–7 GHz $LC$-VCO
    G. Van der Plas ; Libois, Michael ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 58 (2009-08-01), S. 2706-2713
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    A Novel Statistical Timing and Leakage Power Characterization of Partially Depleted Silicon-on-Insulator Gates
    Kim, Yong-Bin ; Kyung Ki Kim ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 58 (2009-02-01), S. 401-410
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    An Injection-Nulling Switch for Switched-Capacitor Circuit Applications
    Chan, P.K. ; Lee, W.F.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 54 (2005-12-01), S. 2416-2426
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    On-Chip Rise-Time Measurement
    Mourad, S. ; Lin, S.L.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 53 (2004-12-01), S. 1510-1516
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    High-accuracy circuits for on-chip capacitive ratio testing and sensor readout
    Temes, Gabor C. ; Kajita, T. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 47 (1998), S. 16-20
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    A complete scheme of built-in self-tests (BIST) structure for fault diagnosis in analog circuits and systems
    Siskos, Stylianos ; Kontoleon, J.M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 42 (1993-06-01), S. 689-694
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    A Fault-Detection System for Digital Integrated Circuits
    Camps, Salvador ; Amaya, Ruben A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 26 (1977), S. 246-251
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    Systematic Development of Integrated Capacitance Measurement System With Sensitivity Tuning
    Mukherjee, Banibrata ; Sen, Siddhartha ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 64 (2015-10-01), S. 2738-2746
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    A Simple Current-To-Time Converter
    Damljanovic, Dragoljub
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 1985-03-01, S. 87-88
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