Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
84 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Verlag

Sprache

84 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Extension of the IEN Traceability for AC Voltages Below 200 mV : Precision electromagnetic measurements
    Pogliano, U. ; Bosco, G. C. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, Jg. 52 (2003), Heft NO 2, S. 375-379
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Systematic Shift Uncertainty Evaluation of IEN CSF1 Primary Frequency Standard : Precision electromagnetic measurements
    Levi, F. ; Lorini, L. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, Jg. 52 (2003), Heft NO 2, S. 267-271
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Traceability of the 10-kOmega Standard at IEN : Precision electromagnetic measurements
    Boella, G. ; Capra, P. P. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, Jg. 50 (2001), Heft NO 2, S. 245-248
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Evaluation of the Uncertainties in the Measurement of Distorted Power by Means of the IEN Sampling System
    Pogliano, U.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, Jg. 55 (2006), Heft 2, S. 620-624
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    The IEN CCC Bridge to Scale the Quantized Hall Resistance to 1-Omega Standards
    Boella, G. ; Mihai, I. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, Jg. 54 (2005), Heft 2, S. 588-591
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Tests on the IEN Electrometric AC-DC Transfer Standard
    Pogliano, U. ; Bosco, G. C.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, Jg. 51 (2002), Heft 1, S. 78-81
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    The Electrical DC Resistance Scale from 100 kOmega to 1 TOmega at IEN
    Galliana, F. ; Boella, G.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, Jg. 49 (2000), Heft 5, S. 959-963
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    The IEN CCC Bridge to Scale the Quantized Hall Resistance to 1-<tex>$Omega$</tex>Standards
    Boella, G. ; Gasparotto, E. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 54 (2005-04-01), S. 588-591
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    The electrical DC resistance scale from 100 kΩ to 1 TΩ at IEN
    Boella, G. ; Galliana, F.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 49 (2000), S. 959-963
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Systematic shift uncertainty evaluation of IEN CSF1 primary frequency standard
    Godone, A. ; Calonico, Davide ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 52 (2003-04-01), S. 267-271
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Traceability of the 10-kΩ standard at IEN
    Cassiago, C. ; Cerri, Roberto ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 50 (2001-04-01), S. 245-248
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Precision measurement of AC voltage below 20 Hz at IEN
    Dallorto, C. ; Pogliano, Umberto
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 46 (1997-04-01), S. 369-372
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -