Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
546 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Sprache

546 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Proton tolerance of multiple-threshold voltage and multiple-breakdown voltage CMOS device design points in a 0.18 [micro]m system-on-a-chip CMOS technology
    Li, Ying ; Cressler, John D. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 50 (2003-12-01), Heft 6, S. 1834-1838
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Modeling and analysis of charged--particle CMOS image sensor arrays
    Li, Shengdong ; Matis, Howard S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 56 (2009-06-01), Heft 3, S. 1062-1068
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Energy resolution in CMOS SSPM detectors coupled to an LYSO scintillator
    Johnson, Erik B. ; Barton, Paul ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 56 (2009-06-01), Heft 3, S. 1024-1032
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Radiation effects on the performance of CMOS photodiode array detectors and the role of gain-offset corrections : complementary metal-oxide-semiconductor
    Kim, Ho Kyung ; Cho, Min Kook ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 56 (2009-06-01), Heft 3, S. 1179-1183
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Development of binary readout CMOS monolithic sensors for MIP tracking
    Degerli, Yavuz ; Besson, Auguste ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 56 (2009-02-01), Heft 1, S. 354-363
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    A CMOS current-mode active pixel sensor for high energy physics and biomedical imaging applications
    Heini, Sbastien ; Himmi, Abdelkader ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 56 (2009-02-01), Heft 1, S. 346-353
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Design optimization of charge preamplifiers with CMOS processes in the 100 nm gate length regime
    Ratti, Lodovico ; Manghisoni, Massimo ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 56 (2009-02-01), Heft 1, S. 235-242
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Temperature dependence of spatially resolved picosecond laser induced transients in a deep submicron CMOS inverter
    Laird, Jamie S. ; Chen, Yuan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 56 (2009-02-01), Heft 1, S. 220-228
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    A 128-channel CMOS charge readout ASIC for flat-panel X-ray detectors
    Adachi, Susumu ; Nishimura, Akihiro ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 55 (2008-12-01), Heft 6, S. 3673-3683
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Total dose evaluation of deep submicron CMOS imaging technology through elementary device and pixel array behavior analysis
    Goiffon, V. ; Magnan, P. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 55 (2008-12-01), Heft 6, S. 3494-3501
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Pulsed laser single-event effects in highly scaled CMOS technologies in the presence of dense metal coverage
    Balasubramanian, Anupama ; McMorrow, Dale ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 55 (2008-12-01), Heft 6, S. 3401-3406
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Comprehensive study of total ionizing dose damage mechanisms and their effects on noise sources in a 90 nm CMOS technology
    Re, Valerio ; Gaioni, Luigi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 55 (2008-12-01), Heft 6, S. 3272-3279
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    On the radiation tolerance of SiGe HBT and CMOS-based phase shifters for space-based, phased-array antenna systems
    Thrivikraman, Tushar K. ; Cheng, Peng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 55 (2008-12-01), Heft 6, S. 3246-3252
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    New SET characterization technique using SPICE for Fully Depleted CMOS/SOI digital circuitry
    Makihara, A. ; Ebihara, T. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 55 (2008-12-01), Heft 6, S. 2921-2927
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Single-event transient pulse propagation in digital CMOS
    Massengill, Lloyd W. ; Tuinenga, Paul W.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 55 (2008-12-01), Heft 6, S. 2861-2871
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A mixed-signal spectroscopic-grade and high-functionality CMOS readout cell for semiconductor X-[gamma] ray pixel detectors
    Caccia, Stefano ; Bertuccio, Giuseppe ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 55 (2008-10-01), Heft 5, S. 2721-2726
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Performance of a digital gamma-imaging system based upon CdTe-CMOS sensor and [sup.75]Se source for nondestructive testing
    Cho, H.S. ; Lee, S.Y. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 55 (2008-10-01), Heft 5, S. 2716-2720
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Noise behavior of a 180 nm CMOS SOI technology for detector front-end electronics
    Re, Valerio ; Gaioni, Luigi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 55 (2008-08-01), Heft 4, S. 2408-2413
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Temperature effect on heavy-ion-induced single-event transient propagation in CMOS bulk 0.18 [micro]m inverter chain
    Truyen, D. ; Boch, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 55 (2008-08-01), Heft 4, S. 2001-2006
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Investigating degradation mechanisms in 130 nm and 90 nm commercial CMOS technologies under extreme radiation conditions
    Ratti, Lodovico ; Gaioni, Luigi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 55 (2008-08-01), Heft 4, S. 1992-2000
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -