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    Effect of Proton Irradiation Fluence on the Linearity and Symmetry of Conductance Tuning of a HfO<subscript> x </subscript>/TiO<subscript> x </subscript> Heterojunction-Based Memristor
    Yan, Jiaqi ; Song, Hongjia ; et al.
    In: IEEE transactions on nuclear science, Jg. 70 (2023), Heft 5, S. 807-814
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    academicJournal
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    Effect of Proton Irradiation Fluence on the Linearity and Symmetry of Conductance Tuning of a HfO x /TiO x Heterojunction-Based Memristor
    Yan, Jiaqi ; Song, Hongjia ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 70 (2023-05-01), S. 807-814
    Online unknown
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    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
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    academicJournal
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    academicJournal
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    Proton Irradiation Effects on Resistive Random Access Memory With ZrO Formula Not Shown /HfO Formula Not Shown Stacks
    Lee, D. ; Lee, J. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 58 (2011), Heft 6, S. 3317-3320
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Superior TID hardness in TiN/HfO _{2} /tiN ReRAMs after proton radiation
    He, Xiaoli ; Wang, Wei ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012-10-01), Heft 5, S. 2550-2554
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Effects of metal gates and back-end-of-line materials on x-ray dose in HfO(sub 2) gate oxide
    Dasgupta, Aritra ; Fleetwood, Daniel M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 58 (2011-12-01), Heft 6, S. 3139-3144
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Proton irradiation effects on resistive random access memory with ZrO(sub x)/HfO(sub x) stacks
    Lee, Daeseok ; Lee, Joonmyoung ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 58 (2011-12-01), Heft 6, S. 3317-3320
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    academicJournal
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    academicJournal
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    Dynamic Modeling of Radiation-Induced State Changes in <formula formulatype='inline'><tex Notation='TeX'>${\hbox {HfO}_2}/\hbox {Hf}$</tex></formula> 1T1R RRAM
    Weeden-Wright, Stephanie L. ; Linten, Dimitri ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-12-01), S. 3497-3503
    Online unknown
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    Total Dose Hardness of <formula formulatype='inline'> <tex Notation='TeX'>${\rm TiN}/{\rm HfO}_{\rm x}/{\rm TiN}$</tex></formula> Resistive Random Access Memory
    Redman-White, William ; Huang, Ruomeng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-12-01), S. 2991-2996
    Online unknown
    Zugriff:
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    TID and Displacement Damage Resilience of 1T1R <formula formulatype='inline'><tex Notation='TeX'>${\rm HfO}_2/{\rm Hf}$</tex></formula> Resistive Memories
    McCurdy, Michael W. ; Degraeve, Robin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-12-01), S. 2972-2978
    Online unknown
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    Single- and Multiple-Event Induced Upsets in <formula formulatype='inline'><tex Notation='TeX'>${\rm HfO}_2/{\rm Hf}$</tex></formula> 1T1R RRAM
    En Xia Zhang ; Alles, Michael L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-08-01), S. 1717-1725
    Online unknown
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    The Impact of X-Ray and Proton Irradiation on ${\rm HfO}_2/{\rm Hf}$-Based Bipolar Resistive Memories
    Schrimpf, Ronald D. ; Bi, Jinshun ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 60 (2013-12-01), S. 4540-4546
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Superior TID Hardness in TiN/HfO$_{2}$/TiN ReRAMs After Proton Radiation
    Butcher, B. ; Wang, Wei ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012-10-01), S. 2550-2555
    Online unknown
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    Identification of the atomic scale defects involved in radiation damage in HfO/sub 2/ based MOS devices
    Conley, John F. ; Bersuker, Gennadi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 52 (2005-12-01), S. 2272-2275
    Online unknown
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    Effects of Metal Gates and Back-End-of-Line Materials on X-Ray Dose in ${\rm HfO}_{2}$ Gate Oxide
    Dasgupta, Aritra ; Weller, Robert A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 58 (2011-12-01), S. 3139-3144
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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