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552 Treffer

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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Neutron Radiation Testing of RISC-V TMR Soft Processors on SRAM-Based FPGAs
    Wilson, Andrew E. ; Wirthlin, Michael ; et al.
    In: IEEE transactions on nuclear science, Jg. 70 (2023), Heft 4, S. 603-610
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Neutron Radiation Testing of a TMR VexRiscv Soft Processor on SRAM-Based FPGAs
    Wilson, Andrew E. ; Larsen, Sam ; et al.
    In: IEEE transactions on nuclear science, Jg. 68 (2021), Heft 5, S. 1054-1060
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Partial TMR for Improving the Soft Error Reliability of SRAM-Based FPGA Designs
    Keller, Andrew M. ; Wirthlin, Michael J.
    In: IEEE transactions on nuclear science, Jg. 68 (2021), Heft 5, S. 1023-1031
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Improving the Reliability of TMR With Nontriplicated I/O on SRAM FPGAs
    Cannon, Matthew J. ; Keller, Andrew M. ; et al.
    In: IEEE transactions on nuclear science, Jg. 67 (2020), Heft 1, S. 312-320
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Improving the Reliability of TMR With Nontriplicated I/O on SRAM FPGAs
    In: IEEE transactions on nuclear science, Jg. 67 (2020), Heft 1, S. 312-320
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Neutron Radiation Testing of RISC-V TMR Soft Processors on SRAM-Based FPGAs
    Wilson, Andrew E. ; Wirthlin, Michael ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 70 (2023-04-01), S. 603-610
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Reliability Calculation With Respect to Functional Failures Induced by Radiation in TMR Arm Cortex-M0 Soft-Core Embedded Into SRAM-Based FPGA
    Benites, Luis A. C. ; Benevenuti, Fabio ; et al.
    In: IEEE transactions on nuclear science, Jg. 66 (2019), Heft 7, S. 1433-1440
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Strategies for Removing Common Mode Failures From TMR Designs Deployed on SRAM FPGAs
    Cannon, Matthew J. ; Keller, Andrew M. ; et al.
    In: IEEE transactions on nuclear science, Jg. 66 (2019), Heft 1, S. 207-215
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Strategies for Removing Common Mode Failures From TMR Designs Deployed on SRAM FPGAs
    In: IEEE transactions on nuclear science, Jg. 66 (2019), Heft 1, S. 207-215
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Partial TMR in FPGAs Using Approximate Logic Circuits : 2015 Conference on Radiation and It's Effects on Components and Systems (RADECS)
    Sánchez-Clemente, A. J. ; Entrena, L. ; et al.
    In: IEEE transactions on nuclear science, Jg. 63 (2016), Heft 4, S. 2233-2240
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Neutron Radiation Testing of a TMR VexRiscv Soft Processor on SRAM-Based FPGAs
    Wirthlin, Michael ; Wilson, Christine D. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-05-01), S. 1054-1060
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Partial TMR for Improving the Soft Error Reliability of SRAM-Based FPGA Designs
    Wirthlin, Michael ; Keller, Andrew M.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-05-01), S. 1023-1031
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Synchronization Techniques for Crossing Multiple Clock Domains in FPGA-Based TMR Circuits : IEEE international nuclear and space radiation effects conference NSREC
    Li, Y. ; Nelson, B. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 57 (2010), Heft 6, S. 3506-3514
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Non-TMR SEU-Hardening Techniques for SiGe HBT Shift Registers and Clock Buffers : Radiation and its effects on components and systems
    Wilcox, E.P. ; Phillips, S.D. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 57 (2010), Heft 4, S. 2119-2123
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A Methodology for Automatic Insertion of Selective TMR in Digital Circuits Affected by SEUs : Radiation and its effects on components and systems RADECS
    Ruano, O. ; Maestro, J.A. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 56 (2009), Heft 4, S. 2091-2102
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Fine-Grain SEU Mitigation for FPGAs Using Partial TMR : Radiation and its effects on components and systems
    Pratt, B. ; Caffrey, M. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 55 (2008), Heft 4, S. 2274-2280
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    A New Algorithm for the Analysis of the MCUs Sensitiveness of TMR Architectures in SRAM-Based FPGAs : Radiation and its effects on components and systems
    Sterpone, L. ; Violante, M.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 55 (2008), Heft 4, S. 2019-2027
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Effectiveness of TMR-Based Techniques to Mitigate Alpha-Induced SEU Accumulation in Commercial SRAM-Based FPGAs : Radiation and its effects on components and systems
    Manuzzato, A. ; Gerardin, S. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 55 (2008), Heft 4, S. 1968-1973
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Analysis of the Robustness of the TMR Architecture in SRAM-Based FPGAs : The eighth European workshop on radiation and its effects on components and systems (RADECS 2004)
    Sterpone, L. ; Violante, M.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 52 (2005), Heft NO 5, S. 1545-1549
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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