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    Response of 5-nm Bulk FinFET SRAMs to Extreme Ionizing and Non-Ionizing Doses
    Xiong, Y. ; Pieper, N.J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 71 (2024-04-01), Heft 4, S. 437-445
    Online academicJournal
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    Non-Linear Coupling Effects in Fully Depleted SOI Transistors
    Spear, M. ; Barnaby, H.J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 70 (2023-04-01), Heft 4, S. 434-441
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Effective Dead Time of Two Non-Paralyzable Detector Components in Series
    Dubi, C.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 69 (2022-09-01), Heft 9, S. 1999-2006
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Effect of Proton Energy and Bias Conditions During Irradiation on CMOS Single-Photon Avalanche Diodes
    Jouni, A. ; Malherbe, V. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 71 (2024-04-01), Heft 4, S. 710-718
    Online academicJournal
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    Modeling Aerial Gamma-Ray Backgrounds Using Non-negative Matrix Factorization
    Bandstra, M.S. ; Joshi, T.H.Y. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-05-01), Heft 5, S. 777-790
    Online academicJournal
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    Design, Manufacture and Temperature Characterization of Screen-Printed Acoustic Sensors for Monitoring the Release of Fission Gases in Experimental Fuel Rods of the Jules Horowitz Reactor
    Baudry, F. ; Rosenkrantz, E. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 71 (2024-05-01), Heft 5, S. 1100-1108
    Online academicJournal
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    Non-negative Matrix Factorization of Gamma-Ray Spectra for Background Modeling, Detection, and Source Identification
    Bilton, K.J. ; Joshi, T.H. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019-05-01), Heft 5, S. 827-837
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Comparison of X-Ray and Electron Radiation Effects on Dark Current Non-Uniformity and Fluctuations in CMOS Image Sensors
    Le Roch, A. ; Virmontois, C. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020), Heft 1, S. 268-277
    Online academicJournal
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    Displacement Damage Equivalence of Neutron and Proton Radiations in Triple-Junction GaInP/GaAs/Ge Solar Cells
    Liu, L. ; Mei, B. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 70 (2023-08-01), Heft 8, S. 1885-1891
    Online academicJournal
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    Effectiveness Analysis of a Non-Destructive Single Event Burnout Test Methodology
    Oser, P. ; Mekki, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-08-01), Heft 4, S. 1865-1873
    Online academicJournal
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    Gamma-Ray Radiation Effect on Non-Resonant Third-Order Optical Nonlinearity of Germano-Silicate Optical Fiber
    Kim, Y. ; Ju, S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 62 (2015-06-01), Heft 3, S. 1362-1366
    Online academicJournal
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    A Versatile System for the In-Field Non-Destructive Characterization of Radioactive Waste Packages and of Objects in the Defense Against Nuclear Threats
    Bucherl, T. ; Lierse von Gostomski, Ch.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-08-01), Heft 4, S. 2034-2039
    Online academicJournal
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    Proton-Induced Displacement Damages in 2-D and Stacked CMOS SPADs: Study of Dark Count Rate Degradation
    Jouni, A. ; Sicre, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 70 (2023-04-01), Heft 4, S. 515-522
    Online academicJournal
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    Sample-to-Sample Variation in Single Crystal YAP:Ce Non-Proportionality
    Donnald, S. B. ; Tyagi, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-02-01), Heft 1, S. 332-338
    Online academicJournal
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    Preparation and Characterization of Non-Stoichiometric Yttrium Aluminum Garnet (YAG) with Antisite Defects as a Potential Scintillator
    Zhu, L. L. ; Zhang, Z. J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-02-01), Heft 1, S. 312-315
    Online academicJournal
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    MR–Consistent Simultaneous Reconstruction of Attenuation and Activity for Non–TOF PET/MR
    Heusser, T. ; Rank, C. M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 63 (2016-10-01), Heft 5, S. 2443-2451
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    A Radiation-Hardened Non-Redundant Flip-Flop, Stacked Leveling Critical Charge Flip-Flop in a 65 nm Thin BOX FD-SOI Process
    Furuta, J. ; Yamaguchi, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 63 (2016-08-01), Heft 4, S. 2080-2086
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    Modeling Charge Loss in CMOS MAPS Exposed to Non-Ionizing Radiation
    Ratti, L. ; Gaioni, L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 60 (2013-08-01), Heft 4, S. 2574-2582
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    The Origins of Scintillator Non-Proportionality
    Moses, W. W. ; Bizarri, G. A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012-10-01), Heft 5, S. 2038-2044
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    From Luminescence Non-Linearity to Scintillation Non-Proportionality
    Vasil'ev, A. N.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 55 (2008-06-01), Heft 3, S. 1054-1061
    Online academicJournal
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