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    Supply Voltage Dependency on the Single Event Upset Susceptibility of Temporal Dual-Feedback Flip-Flops in a 90 nm Bulk CMOS Process
    Hasanbegovic, A. ; Aunet, S.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 62 (2015-08-01), Heft 4, S. 1888-1897
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Novel Soft Error Robust Flip-Flops in 65nm CMOS
    Rennie, D. J. ; Sachdev, M.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 58 (2011-10-01), Heft 5, S. 2470-2476
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Single Event Transients in Digital CMOS—A Review
    Ferlet-Cavrois, V. ; Massengill, L. W. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 60 (2013-06-01), Heft 3, S. 1767-1790
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    New Insights Into the Single Event Transient Propagation Through Static and TSPC Logic
    Bany Hamad, G. ; Hasan, S. R. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-08-01), Heft 4, S. 1618-1627
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Single Event-Induced Error Propagation Through Nominally-off Transmission Gates
    Hutson, J. M. ; Ramachandran, V. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 53 (2006-12-01), Heft 6, S. 3558-3562
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Understanding the Key Parameter Dependences Influencing the Soft-Error Susceptibility of Standard Combinational Logic
    Pande, N. ; Kumar, S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020), Heft 1, S. 116-125
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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