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  1. Wei, C. ; Cui, X.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 73 (2024-03-01), Heft 1, S. 622-636
    Online academicJournal
  2. Niu, Y. ; Wei, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 72 (2023-12-01), Heft 4, S. 1432-1441
    Online academicJournal
  3. Hao, Z. ; Yeh, W. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 68 (2019-03-01), Heft 1, S. 291-301
    Online academicJournal
  4. Yeh, W. ; Zuo, M.J.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 68 (2019-09-01), Heft 3, S. 999-1008
    Online academicJournal
  5. Yeh, W.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 67 (2018-03-01), Heft 1, S. 308-315
    Online academicJournal
  6. Forghani-elahabad, M. ; Bonani, L.H.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 66 (2017-09-01), Heft 3, S. 677-688
    Online academicJournal
  7. Yeh, W. C.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 64 (2015-12-01), Heft 4, S. 1175-1184
    Online academicJournal
  8. Yeh, W. C.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 64 (2015-12-01), Heft 4, S. 1185-1193
    Online academicJournal
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