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    CMOS-Compatible MESFETs for High Power RF Integrated Circuits
    Lepkowski, William ; Zhang, Xiong ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 32 (2019-02-01), S. 14-22
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    Test Structures for the Characterization of MEMS and CMOS Integration Technology.
    Lin, Huamao ; Walton, Anthony J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 21 (2008-05-01), Heft 2, S. 140-147
    Online academicJournal
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    CMOS Junctionless Field-Effect Transistors Manufacturing Cost Evaluation
    Wen, Sandy M. ; Chi On Chui
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 26 (2013-02-01), S. 162-168
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    Low-K/Cu CMOS-Based SoC Technology With 115-GHz<tex>$f_T$</tex>, 100-GHz<tex>$f_max$</tex>, Low Noise 80-nm RF CMOS, High-Q MiM Capacitor, and Spiral Cu Inductor
    Guo, Jyh-Chyurn
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 19 (2006-08-01), S. 331-338
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    A Temperature Sensor With an Inaccuracy of ${-}{\hbox{1}}/{+}{\hbox{0.8}}\ ^{\circ}$C Using 90-nm 1-V CMOS for Online Thermal Monitoring of VLSI Circuits
    Sasaki, M. ; Ikeda, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 21 (2008-05-01), S. 201-208
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    A Test Structure for Contact and Via Failure Analysis in Deep-Submicrometer CMOS Technologies
    Cabrini, A. ; Pasotti, Marco ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 19 (2006-02-01), S. 57-66
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    Ring Oscillators for CMOS Process Tuning and Variability Control
    Bhushan, Manjul ; Gattiker, Anne E. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 19 (2006-02-01), S. 10-18
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    SCR Device Fabricated With Dummy-Gate Structure to Improve Turn-On Speed for Effective ESD Protection in CMOS Technology
    Hsu, Kuo-Chun ; Ker, Ming-Dou
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 18 (2005-05-01), S. 320-327
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    ESD Implantations for On-Chip ESD Protection With Layout Consideration in 0.18-<tex>$muhbox m$</tex>Salicided CMOS Technology
    Chuang, Che-Hao ; Ker, Ming-Dou ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 18 (2005-05-01), S. 328-337
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    Methodology on extracting compact layout rules for latchup prevention in deep-submicron bulk CMOS technology
    Lo, Wen-Yu ; Ker, Ming-Dou
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 16 (2003-05-01), S. 319-334
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    Effect of cmos technology scaling on thermal management during burn-in
    Keshavarzi, Ali ; Sachdev, Manoj ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 16 (2003-11-01), S. 686-695
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    Test structures to measure the Seebeck coefficient of CMOS IC polysilicon
    Baltes, H. ; M. von Arx ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 10 (1997-05-01), S. 201-208
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    High performance 3.3- and 5-V 0.5-μm CMOS technology for ASIC's
    Cochran, W.T. ; Lytle, S.A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 8 (1995), S. 440-448
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    Effect of tilt angle variations in a halo implant on V/sub th/ values for 0.14-μm cmos devices
    Abeln, G.C. ; Santiesteban, R.S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 16 (2003-11-01), S. 653-655
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    Conventional contact interconnect technology as an alternative to contact plug (W) technology for 0.85 μm CMOS EPROM IC devices
    Garg, Shyam G. ; Buller, James F. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 7 (1994), S. 79-86
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    Limitation of the TiN/Ti layer formed by the rapid thermal heat treatment of pure Ti films in an NH/sub 3/ ambient in fabrication of submicrometer CMOS flash EPROM IC's
    Farahani, M.M. ; Garg, Shyam G. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 10 (1997), S. 147-153
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    The Evolution of Pixel Structures for Consumer-Grade Image Sensors
    Fontaine, R.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 26 (2013-02-01), S. 11-16
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    A Coupled-Simulation-and-Optimization Approach to Nanodevice Fabrication With Minimization of Electrical Characteristics Fluctuation
    Li, Yiming ; Yu, Shao-Ming
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 20 (2007-11-01), S. 432-438
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    Integrated Capacitor Array Matching Characterization
    Seebacher, E. ; Posch, W.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 25 (2012-08-01), S. 331-338
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    Guest Editorial Special Section on the 2016 International Conference on Compound Semiconductor Manufacturing Technology (CS MANTECH)
    Della-Morrow, Celicia ; Fay, Patrick ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 29 (2016-11-01), S. 328-329
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