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    Yield Learning Methodologies and Failure Isolation in Ring Oscillator Circuit for CMOS Technology Research
    Gaul, A. ; Greene, Andrew M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 32 (2019-11-01), S. 393-399
    Online unknown
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    Timing Optimization and Noise Tolerance for Dynamic CMOS Susceptible to Process Variations
    Chien-In Henry Chen ; Yelamarthi, Kumar
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 25 (2012-05-01), S. 255-265
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    Methodology on extracting compact layout rules for latchup prevention in deep-submicron bulk CMOS technology
    Lo, Wen-Yu ; Ker, Ming-Dou
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 16 (2003-05-01), S. 319-334
    Online unknown
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    Precise characterization of long-distance mismatch of CMOS devices
    Schaper, U. ; Thewes, Roland ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 14 (2001), S. 311-317
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    Circuit-level simulation of TDDB failure in digital CMOS circuits
    Rosenbaum, Elyse ; Minami, E.R. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 8 (1995-08-01), S. 370-374
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    Prediction of product yield distributions from wafer parametric measurements of CMOS circuits
    Heuy, J. ; Mizrukhin, L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 5 (1992-05-01), S. 88-93
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    Metrology Challenges for Emerging Research Devices and Materials
    Vogel, Eric M. ; Garner, C.M.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 19 (2006-11-01), S. 397-403
    Online unknown
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    NBTI and Process Variations Compensation Circuits Using Adaptive Body Bias
    Elmasry, Mohamed I. ; Anis, Mohab ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 25 (2012-08-01), S. 460-467
    Online unknown
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