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In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 25 (2017-12-01), Heft 12, S. 3509-3520Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 25 (2017-12-01), Heft 12, S. 3434-3443Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 24 (2016-06-01), Heft 6, S. 2234-2243Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 23 (2015-09-01), Heft 9, S. 1914-1919Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 27 (2019), Heft 1, S. 248-252Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 19 (2011-10-01), Heft 10, S. 1902-1907Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 19 (2011-09-01), Heft 9, S. 1718-1722Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 20 (2012-09-01), Heft 9, S. 1553-1564Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 29 (2021-05-01), S. 998-1008Online unknownZugriff:
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In: IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, Jg. 18 (2010), Heft 1, S. 161-165Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, Jg. 21 (2013), Heft 11, S. 2024-2033Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 29 (2021-05-01), Heft 5, S. 998-1008Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 27 (2019-07-01), Heft 7, S. 1486-1503Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 19 (2011-05-01), Heft 5, S. 900-904Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 19 (2011-04-01), Heft 4, S. 538-547Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 27 (2019-03-01), Heft 3, S. 560-572Online academicJournalZugriff: