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    A Low-Power Forward and Reverse Body Bias Generator in CMOS 40 nm
    Wu, Chundong ; Wang, Lei ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 26 (2018-07-01), S. 1403-1407
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    A 170-dB $\Omega $ CMOS TIA With 52-pA Input-Referred Noise and 1-MHz Bandwidth for Very Low Current Sensing
    Rezaee-Dehsorkh, Hamidreza ; Taherzadeh-Sani, Mohammad ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 25 (2017-05-01), S. 1756-1766
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    A 65-nm CMOS Constant Current Source With Reduced PVT Variation
    Wang, Dong ; Pak Kwong Chan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 25 (2017-04-01), S. 1373-1385
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    A 0.13- <tex-math notation='LaTeX'>$\mu $ </tex-math>m CMOS Current-Mode All-Pass Filter for Multi-GHz Operation
    Ahmadi, Peyman ; Taghavi, M. H. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 23 (2015-12-01), S. 2813-2818
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    A Resistor-Based Sub-1-V CMOS Smart Temperature Sensor for VLSI Thermal Management
    Pun, Kong-Pang ; Wai Tung Ng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 23 (2015-09-01), S. 1651-1660
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    A Performance-Aware MOSFET Threshold Voltage Measurement Circuit in a 65-nm CMOS
    Pak Kwong Chan ; Xiao Liang Tan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 24 (2016-04-01), S. 1430-1440
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    An Ultralow Power Subthreshold CMOS Voltage Reference Without Requiring Resistors or BJTs
    Zhan, Chenchang ; Wang, Lidan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 26 (2018), S. 201-205
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    A 1-V, 16.9 ppm/$^{\circ}$C, 250 nA Switched-Capacitor CMOS Voltage Reference
    Chen, Ke-Horng ; Huang, Hong-Wei ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 19 (2011-04-01), S. 659-667
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    Design Methodology for Distributed Large-Scale ERSFQ Bias Networks
    Friedman, Eby G. ; Krylov, Gleb
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 28 (2020-11-01), S. 2438-2447
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    Voltage Reference With Linear-Temperature-Dependent Power Consumption
    Liu, Xiaoxian ; Zhuang, Haoyu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 28 (2020-04-01), S. 1043-1049
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    A Low-Complexity Hybrid Readout Circuit for Lidar Receiver
    Zhao, Yiqiang ; Ye, Mao ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 28 (2020-03-01), S. 828-832
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    A 10-bit Two-Stage R-DAC With Isolating Source Followers for TFT-LCD and AMOLED Column-Driver ICs
    Yin, Ping-Yeh ; Lu, Chih-Wen ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 27 (2019-02-01), S. 326-336
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    A 2-MHz BW 82-dB DR Continuous-Time Delta–Sigma Modulator With a Capacitor-Based Voltage DAC for ELD Compensation
    Na, Seung-in ; Kim, Suhwan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 26 (2018-10-01), S. 1999-2006
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    An R2R-DAC-Based Architecture for Equalization-Equipped Voltage-Mode PAM-4 Wireline Transmitter Design
    Lee, Jeffrey ; Du, Yuan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 25 (2017-11-01), S. 3260-3264
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    A Flexible Continuous-Time $\Delta \Sigma $ ADC With Programmable Bandwidth Supporting Low-Pass and Complex Bandpass Architectures
    Chi, Baoyong ; Xu, Yang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 25 (2017-03-01), S. 872-880
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    A 1-GS/s 9-bit Zero-Crossing-Based Pipeline ADC Using a Resistor as a Current Source
    Kim, Young-Hwa ; Cho, SeongHwan
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 24 (2016-07-01), S. 2570-2579
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    Using the Gate–Bulk Interaction and a Fundamental Current Injection to Attenuate IM3 and IM2 Currents in RF Transconductors
    Asghari, Meysam ; Yavari, Mohammad
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 24 (2016), S. 223-232
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    A Sub-1-V 65-nm MOS Threshold Monitoring-Based Voltage Reference
    Xiao Liang Tan ; Pak Kwong Chan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 23 (2015-10-01), S. 2317-2321
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    A Fully On-Chip PT-Invariant Transconductor
    Sharma, Dinesh K. ; Dave, Marshnil ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 23 (2015-09-01), S. 1961-1964
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    New Approach to VLSI Buffer Modeling, Considering Overshooting Effect
    Masoumi, Nasser ; Mehri, Milad ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 21 (2013-08-01), S. 1568-1572
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