Suchergebnisse
UB Katalog
Artikel & mehr
Suchmaske
Suchergebnisse einschränken oder erweitern
Aktive Suchfilter
Weniger Treffer
Gefunden in
Art der Quelle
Schlagwort
- complementary metal oxide semiconductors 27 Treffer
- cmos 14 Treffer
- reliability 11 Treffer
- electric potential 9 Treffer
- field-effect transistors 8 Treffer
-
45 weitere Werte:
- integrated circuits 8 Treffer
- cmos integrated circuits 7 Treffer
- process variations 7 Treffer
- electric capacity 6 Treffer
- energy consumption 6 Treffer
- energy dissipation 6 Treffer
- metal oxide semiconductor field-effect transistors 6 Treffer
- random access memory 6 Treffer
- transistors 6 Treffer
- very large scale circuit integration 6 Treffer
- logic 5 Treffer
- analog integrated circuits 4 Treffer
- analytical modelling 4 Treffer
- charge pump 4 Treffer
- classification 4 Treffer
- combinational logic 4 Treffer
- efficiency 4 Treffer
- feedback circuits 4 Treffer
- linear circuits 4 Treffer
- low power 4 Treffer
- lte 4 Treffer
- multiband 4 Treffer
- multimode 4 Treffer
- opamp 4 Treffer
- pga 4 Treffer
- pixel 4 Treffer
- radiation 4 Treffer
- radiation hardening 4 Treffer
- receivers 4 Treffer
- resurf 4 Treffer
- rf power amplifiers 4 Treffer
- roic 4 Treffer
- single event effects 4 Treffer
- static random access memory 4 Treffer
- switching 4 Treffer
- technology scaling 4 Treffer
- vga 4 Treffer
- wcdma 4 Treffer
- 45 nm cmos technology 3 Treffer
- active pixel sensor (aps) 3 Treffer
- algorithms 3 Treffer
- analog cmos integrated circuits 3 Treffer
- analog-to-digital converters 3 Treffer
- audio amplifiers 3 Treffer
- bandwidths 3 Treffer
Sprache
78 Treffer
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
In: IETE Technical Review, Jg. 40 (2023-09-01), Heft 5, S. 611-620academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
In: IETE Technical Review, Jg. 39 (2022-09-01), Heft 5, S. 1114-1123academicJournalZugriff:
-
In: IETE Technical Review, Jg. 39 (2022-09-01), Heft 5, S. 1114-1123academicJournalZugriff:
-
In: IETE Technical Review, Jg. 36 (2019-09-01), Heft 5, S. 484-500academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
In: IETE Technical Review, Jg. 37 (2020-11-01), Heft 6, S. 565-578academicJournalZugriff:
-
In: IETE Technical Review, Jg. 34 (2017-03-01), Heft 2, S. 165-187academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
In: IETE Technical Review, Jg. 28 (2011-03-01), Heft 2, S. 113-122Online academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
In: IETE Technical Review, Jg. 27 (2010-11-01), Heft 6, S. 446-454Online academicJournalZugriff:
-
In: IETE Technical Review, 2023-09-30, S. 1-11academicJournalZugriff:
-
In: IETE Technical Review, Jg. 41 (2024), Heft 1, S. 73-84academicJournalZugriff:
-
In: IETE Technical Review, Jg. 35 (2018-05-01), Heft 3, S. 237-243academicJournalZugriff:
-
In: IETE Technical Review, Jg. 39 (2022-07-01), Heft 4, S. 850-864academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff: