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    Negative Bias Temperature Instability in CMOS Devices
    MAHAPATRA, S ; ALAM, M. A ; et al.
    In: Infos 2005: Proceedings of the 14th Biennal Conference on Insulating Films on Semiconductors, June 22-24, Jg. 80 (2005), S. 114-121
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Breakdowns in high-k gate stacks of nano-scale CMOS devices
    PEY, K. L ; RANJAN, R ; et al.
    In: Infos 2005: Proceedings of the 14th Biennal Conference on Insulating Films on Semiconductors, June 22-24, Jg. 80 (2005), S. 353-361
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Positive Bias Temperature Instability in nMOSFETs with ultra-thin Hf-silicate gate dielectrics
    CRUPI, F ; PACE, C ; et al.
    In: Infos 2005: Proceedings of the 14th Biennal Conference on Insulating Films on Semiconductors, June 22-24, Jg. 80 (2005), S. 130-133
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Ultra-thin strained SOI substrate analysis by pseudo-MOS measurements
    GALLON, C ; FENOUILLET -BERANGER, C ; et al.
    In: Infos 2005: Proceedings of the 14th Biennal Conference on Insulating Films on Semiconductors, June 22-24, Jg. 80 (2005), S. 241-244
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
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