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    STRUCTURES AND PROPERTIES OF PZT(52/48) THIN FILMS WITH DIFFERENT SUBSTRATE TEMPERATURE AND OXYGEN PERCENTAGE IN MIXED Ar AND O2 GAS ON LNO/Si (100) BY SPUTTERING.
    Zhang, X.D. ; Lin, T. ; et al.
    In: Integrated Ferroelectrics, Jg. 113 (2009-11-01), Heft 1, S. 63-71
    academicJournal
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    POLE FIGURE STUDIES OF LaNiO3 FILM PREPARED ON VICINAL MgO (100) SUBSTRATE BY PULSED LASER DEPOSITION.
    Ji, Hong ; Zuo, Changming ; et al.
    In: Integrated Ferroelectrics, Jg. 89 (2007-03-01), Heft 1, S. 29-35
    academicJournal
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    STRUCTURAL, MICRO STRUCTURAL AND ELECTRICAL PROPERTIES COMPARISON OF PZT FILMS DEPOSITED ON DIFFERENT BOTTOM ELECTRODES.
    Soyer, C. ; Wang, G. ; et al.
    In: Integrated Ferroelectrics, Jg. 80 (2006-03-01), Heft 1, S. 237-243
    academicJournal
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    PREPARATION AND CHARACTERIZATIONS OF PbZr 0.53 Ti 0.47 O 3 THICK FILMS ON LaNiO 3 COATED Si BY MODIFIED METALLORGANIC DECOMPOSITION PROCESS.
    Wang, G. S. ; Rèmiens, D. ; et al.
    In: Integrated Ferroelectrics, Jg. 80 (2006-03-01), Heft 1, S. 11-20
    academicJournal
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    Effects of LaNiO 3 Buffer Layer Thickness on the Ferro- and Piezoelectric Properties of PZT Films.
    Kim, H. ; Kim, J. H. ; et al.
    In: Integrated Ferroelectrics, Jg. 64 (2004-06-01), Heft 1, S. 125-133
    academicJournal
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    STRUCTURE AND FERROELECTRIC PROPERTIES OF PZT THIN FILM DEPOSITED ON LaNiO3 BOTTOM ELECTRODES.
    Yang, Chengtao ; Zhang, Shuren ; et al.
    In: Integrated Ferroelectrics, Jg. 98 (2008-03-01), Heft 1, S. 69-76
    academicJournal
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    CHARACTERISTIC OF (100)-TEXTURED (Pb x Sr 1 -x )TiO 3 THIN FILMS USED FOR DRAM AND TUNABLE DEVICE APPLICATION.
    Chiou, Yan-Kai ; Wu, Tai-Bor
    In: Integrated Ferroelectrics, Jg. 80 (2006-03-01), Heft 1, S. 395-405
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    The Effects of Buffers on the Microstructure and Electrical Properties of Mn/Y Co-Doped Ba 0.67 Sr 0.33 TiO 3 Thin Films.
    Chen, X. Y. ; Yang, C. L. ; et al.
    In: Integrated Ferroelectrics, Jg. 140 (2013), Heft 1, S. 132-139
    academicJournal
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    EFFECT OF SPUTTERING WORKING PRESSURE ON MICROSTRUCTURES AND PROPERTIES OF PZT THIN FILMS.
    Zhang, X.D. ; Lin, T. ; et al.
    In: Integrated Ferroelectrics, Jg. 113 (2009-11-01), Heft 1, S. 31-40
    academicJournal
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    FABRICATION AND CONDUCTIVE CHARACTERISTIC OF HIGHLY ORIENTED LANIO3 THIN FILMS.
    Hu, Wencheng ; Yang, Chuanren ; et al.
    In: Integrated Ferroelectrics, Jg. 91 (2007-06-01), Heft 1, S. 73-79
    academicJournal
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    academicJournal
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    Influence of Aliovalent Doping on Dielectric Properties of Ba 0.6 Sr 0.4 TiO 3 Thin Film for Voltage Tunable Applications.
    Upadhyay, R. B. ; Annam, Sriranganath ; et al.
    In: Integrated Ferroelectrics, Jg. 167 (2015-11-01), Heft 1, S. 184-191
    academicJournal
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    Ferromagnetism and Surface Chemical States of Ni 0.5 Zn 0.5 Fe 2 O 4 Thin Film Grown on LaNiO 3 Bottom Layer Prepared by Chemical Solution Deposition.
    Li, R. ; Tang, X. G. ; et al.
    In: Integrated Ferroelectrics, Jg. 139 (2012-11-01), Heft 1, S. 48-54
    academicJournal
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    THE MICROSTRUCTURE CHARACTERISTICS AND DIELECTRIC BEHAVIORS OF THE COMPOSITIONALLY GRADED Ba(Ti,Sn)O 3 THIN FILMS.
    ZHAI, JIWEI ; SONG, SANNIAN ; et al.
    In: Integrated Ferroelectrics, Jg. 74 (2005-09-01), Heft 1, S. 137-145
    academicJournal
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